ST STM32G474 内部 DAC 与快速比较器在滞环电流控制中实现电流阈值检测的调试需要注意

发表于 2025-10-21 09:35

ST STM32G474 内部 DAC与快速比较器（COMP1/COMP2）在滞环电流控制中实现电流阈值检测的调试需要注意什么？

发表于 2025-10-29 07:24

我之前在 G474 上做过电流滞环控制，DAC 输出的参考电压最好加上 RC 滤波，不然噪声会让比较器误触发，尤其是在 PWM 高频的时候。

发表于 2025-10-29 07:25

注意比较器的迟滞电压（Hysteresis）设置，默认是关的，建议打开一点，大概 20mV 左右，这样能避免抖动导致的频繁翻转。

发表于 2025-10-29 07:26

我怀疑你要是用内部 DAC 给 COMP 提阈值，记得检查 DAC 更新速度，不能在比较器频繁采样时同步更新，会引起瞬态误判。

发表于 2025-10-29 07:27

建议调试时先把电流信号通过示波器和 COMP 输出一起看，确认阈值翻转点和期望一致，不然有时候内部延迟会比你想的多几十纳秒。

发表于 2025-10-29 07:28

我试过用 COMP + DAC 控电流，发现 DAC 输出模式选 buffer disable 会更快，输出延迟低一点，对高频滞环控制有帮助。

发表于 2025-10-29 07:29

另外要注意输入通道的共模范围，尤其是电流采样放大后电平，如果超过比较器输入限制，上下限判断都会错。

发表于 2025-10-29 07:30

我建议先用软件模拟滞环控制逻辑（比如用 ADC 判断），确认逻辑正确后再切换到 COMP + DAC 硬件实现，方便排错。

发表于 2025-10-29 07:31

如果你开了高速模式（COMPx->CSR 的 COMPx_HYST bits），要同步调整采样电阻值，防止振荡，这块在 ST 的 AN5338 里有提到。

发表于 2025-10-29 07:32

我测试时发现内部 DAC 输出偏差大概有 ±10mV，做电流限幅时要留一定余量，不然会出现“卡限”状态。

发表于 2025-10-29 07:32

有时候 COMP 输出抖动不是阈值问题，而是死区时间设置不当，电流反向时 COMP 来不及复位。可以在 PWM 死区调小一点试试。

[STM32G4] ST STM32G474 内部 DAC 与快速比较器在滞环电流控制中实现电流阈值检测的调试需要注意