[STM32L0] ADC采样结果偏低,疑似参考电压漂移

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帛灿灿 发表于 2025-10-20 07:09 | 显示全部楼层 |阅读模式
同一块板上,ADC采样在温度升高后明显偏低,补偿也不太管用。感觉像Vref内部参考“飘”了。已经排除外部电源问题,还在查原因。
Clyde011 发表于 2025-10-20 07:15 | 显示全部楼层
你也可以试试调大采样周期,先排除采样充电问题。
公羊子丹 发表于 2025-10-20 07:16 | 显示全部楼层
这个现象我也碰过,内部Vref在温升时确实会有偏差。
周半梅 发表于 2025-10-20 07:17 | 显示全部楼层
你有没有开内部温度补偿?有的系列要手动校准。
 楼主| 帛灿灿 发表于 2025-10-20 07:18 | 显示全部楼层
我觉得可能是ADC采样时间太短,导致充电不充分。
童雨竹 发表于 2025-10-20 07:19 | 显示全部楼层
可以试着用外部精密基准源看看是不是Vref问题。
万图 发表于 2025-10-20 07:20 | 显示全部楼层
我以前用L0系列也是这样,温漂挺明显的。
Wordsworth 发表于 2025-10-20 07:21 | 显示全部楼层
如果对精度要求高,建议每次开机都重新做一次校准。
Bblythe 发表于 2025-10-20 07:22 | 显示全部楼层
你测过Vrefint通道的ADC值吗?那能判断基准是否稳定。
Pulitzer 发表于 2025-10-20 07:23 | 显示全部楼层
温度一上去偏差大,基本可以确定是内部参考在漂。
Uriah 发表于 2025-10-20 07:23 | 显示全部楼层
我换成外部2.5V基准后问题就消失了。
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