[STM32G0] ADC采样结果偶尔跳变,数值突然偏高

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周半梅 发表于 2025-10-21 07:11 | 显示全部楼层 |阅读模式
我在测电池电压,用内部ADC采样,发现偶尔会跳到高几十个数值,感觉像“眨了一下眼”。加平均滤波后好点,但仍然偶尔出现。参考电压是内部Vref,采样时间设置也尝试加长过。
Clyde011 发表于 2025-10-21 07:17 | 显示全部楼层
这种随机跳变我一般都用滑动平均平滑掉。
公羊子丹 发表于 2025-10-21 07:19 | 显示全部楼层
是不是采样电容没充分充电?采样时间再加大试试。
 楼主| 周半梅 发表于 2025-10-21 07:19 | 显示全部楼层
我碰到过类似的,最后发现是参考电压有波动。
帛灿灿 发表于 2025-10-21 07:20 | 显示全部楼层
ADC输入阻抗太高的话也可能导致这种抖动。
童雨竹 发表于 2025-10-21 07:21 | 显示全部楼层
可以用DMA连续采样,然后分析波形看规律。
万图 发表于 2025-10-21 07:22 | 显示全部楼层
内部Vref不稳定是老问题了,可以试外部基准源。
Wordsworth 发表于 2025-10-21 07:23 | 显示全部楼层
加一个RC低通滤波试过没?有时候能稳很多。
Bblythe 发表于 2025-10-21 07:24 | 显示全部楼层
我怀疑电源噪声问题,你看看采样时的电源纹波。
Pulitzer 发表于 2025-10-21 07:25 | 显示全部楼层
如果只是偶尔跳一下,也可能是软件缓存读写问题。
Uriah 发表于 2025-10-21 07:26 | 显示全部楼层
你试过单通道固定采样吗?排除多通道切换干扰。
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