大量数据通过 SWV）追踪时，STM32CubeIDE 会出现死机现象。

发表于 2025-10-28 11:32

本帖最后由 Hitomi22 于 2025-10-28 11:58 编辑

正在追踪一个 uint32 类型变量（由 USB 主机中断递增的计数器），目的是排查 MSC 类相关问题。大约 80 秒内我会收到约 200 万条追踪数据，问题是此时STM32CubeIDE 会完全冻结，且无法从该状态恢复，只能从任务管理器将其停止。请教如何搞？

发表于 2025-10-28 14:58

减少追踪变量数量

发表于 2025-10-28 15:59

适当减少数据采样频率

发表于 2025-10-28 17:59

将追踪过程分为多个时间段进行，每次追踪后保存数据并清理缓冲区，避免一次性追踪过多数据。

发表于 2025-10-28 15:00

关闭不必要的应用程序

发表于 2025-10-28 19:00

优化SWV配置，调整SWV数据窗口大小，避免缓冲区溢出。

发表于 2025-10-28 20:01

用STM32CubeIDE的最新版本，检查目标设备的固件和调试驱动是否为最新，避免兼容性问题。

发表于 2025-10-28 15:31

在关键代码位置设置硬件断点，替代持续的数据追踪，减少SWV数据量。

发表于 2025-10-28 16:32

用外部逻辑分析仪捕获USB主机中断信号，与IDE追踪数据同步分析，减少对SWV的依赖。

发表于 2025-10-28 21:03

检查调试接口有无松动或接触不良

[STM32F3] 大量数据通过 SWV）追踪时，STM32CubeIDE 会出现死机现象。

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