基于统计学的 dsPIC 抖动分析方法，如何确保测试结果反映实际应用特性？

发表于 2025-11-12 14:51

Microchip 在测量 dsPIC系列 MCU 的抖动时，要求采集至少 10000 次样本以识别长期抖动，其基于统计学的抖动分析方法（如高斯分布标准差、峰 - 峰值剔除）如何确保测试结果能反映实际应用中的抖动特性？

发表于 2025-11-17 14:27

基于统计学的 dsPIC 抖动分析，需模拟实际应用场景：采集足够样本量（如数万次），覆盖不同负载、温度、电压条件；用直方图、标准差等统计量表征抖动分布；结合应用的时序要求（如 PWM 占空比范围），聚焦关键频率段，排除测试环境干扰，使样本分布与实际工况一致，确保结果反映真实抖动特性。

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