21ic电子技术开发论坛 › 单片机与嵌入式系统 › 中颖MCU › SH79F8013 RAM数据腐化
返回列表 发新帖我要提问

[家电应用] SH79F8013 RAM数据腐化

[复制链接]
784|3
flycamelaaa 发表于 2025-11-9 11:09 | 显示全部楼层 |阅读模式
RAM, 全局变量, 运行, RA, H7
程序运行2小时后，全局变量值随机跳变。
回复

收藏 举报

相关帖子
水星限定 发表于 2025-11-12 15:44 | 显示全部楼层
SH79F8013 RAM 数据腐化可能因电源不稳（纹波大、欠压）、电磁干扰（未做好接地屏蔽）、堆栈溢出（栈空间不足或指针越界）、程序跑飞（中断向量错误、死循环）导致。可加强电源滤波、优化 PCB 布局、增大堆栈、检查中断配置，或用 RAM 自检程序定位问题区域。
回复

收藏 举报

返回列表 发新帖
高级模式
B Color Image Link Quote Code Smilies
您需要登录后才可以回帖 登录 | 注册

本版积分规则

flycamelaaa

875

主题

4642

帖子

1

粉丝
快速回复 在线客服 返回列表 返回顶部
0