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碳黑分散度检测仪逆向研究与专业抄板设计

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pcbqc|  楼主 | 2012-6-25 17:55 | 只看该作者 回帖奖励 |倒序浏览 |阅读模式
碳黑分散仪是深圳芯谷PCB抄板中心通过反向技术研发而成,是利用光学方式取得混练胶的切断面的影像,透过计算机的分析计算,而测得混练胶碳黑分散度、碳黑凝聚块大小…等,专利的裁刀可以让使用者轻易的取得平整的切断面。
  技术参数
  1. 放大倍数:100X
  2. 样品尺寸:15 ×15 mm.
  3. 影像撷取:彩色CCD数字摄影机与高分辨率影像处理接口
  4. 电气:115/220 VAC±10%, 50/60 ± 3 Hz.
  5. 影像撷取主机尺寸:32(W) ×55(D) ×25(H) cm.
  6. 影像撷取主机重量:15 kg.
  主要特点
  1.CCD数字影像撷取
  使用精密的光学放大镜头及高画质的数字摄影机,配合高分辨率的影像撷取接口,可获取精准的样品表面影像。
  2.专利的快速取样方法
  待测胶料无需前置处理作业,经由专属配备之专利试片裁切机即可轻易切取样品。
  3.影像处理
  应用数字影像处理,将撷取的高分辨率影像,瞬间辨识存在于橡胶中的颗粒(如炭黑凝结块),并以亮点表示,易于了解橡胶中不同粒径颗粒的实际分布情形。
  4.分析计算
  功能强大的程序,可立即计算出颗粒数、平均粒径、最大粒径、颗粒总面积、、、等资料,同时以柱状图显示粒径分布;配合可存入的标准图库,使用者可自行比对而判断样品混炼等级。
  5.数据/图形之贮存与打印
  所有设定之测试条件与测试所得之数值与图形均能够被储存、呼叫及打印;在打印时亦可以自由决定是否同时印出数据与图形,或者仅打印数据!
  6.管制界限
  提供使用者设定各种粒径数量与最大粒径之管制界限以方便品管。
  深圳芯谷长期从事PCB抄板、芯片解密、电路板克隆、样机制作及电子设备仿制等反向技术研发,是目前国内最大最具权威性的专业从事反向技术研发的商业机构,欢迎有相关需求的朋友来电咨询及洽谈!

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