[PIC32/SAM] 烧写口并联电容,导致 ICD 调试频繁断连如何解决?

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kepe 发表于 2026-6-8 11:57 | 显示全部楼层 |阅读模式
烧写口并联电容,导致 ICD 调试频繁断连如何解决?
王栋春 发表于 2026-6-8 13:59 | 显示全部楼层
微调一下容量试试看。
 楼主| kepe 发表于 2026-6-8 16:14 | 显示全部楼层
王栋春 发表于 2026-6-8 13:59
微调一下容量试试看。

为了抗干扰加了 100pF 的电容,换成多少合适

评论

换成0.2--0.3UF的试试看  发表于 2026-6-8 19:07
王栋春 发表于 2026-6-9 07:32 | 显示全部楼层
kepe 发表于 2026-6-8 16:14
为了抗干扰加了 100pF 的电容,换成多少合适

有什么结果还记得分享一下,毕竟这种情况经常遇到。
21mengnan 发表于 2026-6-12 18:35 | 显示全部楼层
ICD 调试通信依赖高速同步时钟 PGC、数据 PGD、复位 MCLR三条信号线;线上对地并联电容会严重拖慢信号上升 / 下降沿,时序裕量直接耗尽,握手采样出错、频繁断连、报错通信失败。
yiy 发表于 2026-6-13 11:58 | 显示全部楼层
Debugger 设置里把调试时钟降到100kHz~200kHz,不要用默认 1MHz/2MHz 高速
我趴在云边 发表于 2026-6-20 08:47 | 显示全部楼层
优先拆除烧写口大容量并联电容,仅保留 100pF 以内小容值滤波;缩短 ICD 走线、降低寄生电容。调试时断开终端上拉 / 下拉电阻,减少负载。软件降低调试时钟速率,启用低速烧写模式。区分调试与量产电路,量产保留滤波电容,调试板移除,消除电容充放电造成通信中断。
zhuotuzi 发表于 2026-6-16 13:53 | 显示全部楼层
ICD(在线调试器 / 下载器,如 STM32 ST-Link、PIC ICD、J-Link、瑞萨 E2 等)调试 / 下载依靠高速同步串行时钟信号(SWCLK/SCK/TCK) 通信
占得人间第一春 发表于 2026-6-17 21:01 | 显示全部楼层
尝试更换烧写口的电容,有可能是电容损坏导致的接触不良。
hu9jj 发表于 2026-6-17 07:12 | 显示全部楼层
为什么要并联电容?
xiyaoko2365 发表于 2026-6-18 21:00 | 显示全部楼层
之前做PIC32MZ项目踩过一模一样的坑!烧写口DATA/CLK并了10nF稳压电容,下载调试时ICD3频繁掉线。根源是电容充放电拖慢通讯边沿,仿真器驱动能力拉不动。解决办法:调试位保留0402 1nF以内小电容,量产板如果必须加大滤波,增加调试焊盘,调试阶段临时拆掉大容量并联电容
突然下起雨 发表于 2026-6-18 22:06 | 显示全部楼层
Microchip官方手册明确规范:PGEC/PGED引脚并联电容建议≤1nF。大容量并联电容会增大总线负载,ICD仿真器的驱动电流有限,高速调试通讯时时序裕量直接归零,出现握手失败、频繁断连。方案分两种:1.调试板电容控制在1pF~1nF;2.量产板预留0Ω电阻隔断大容量电容,调试时断开
caoyunhj2301 发表于 2026-6-18 23:11 | 显示全部楼层
补充软件层面辅助缓解手段,硬件来不及改板时应急用:MPLAB里降低ICD调试通讯速率,把高速模式切换为低速;关闭实时数据流、变量实时监控这类持续交互功能,减少引脚频繁跳变。治标不治本,最终还是要优化引脚容性负载
grfqq325 发表于 2026-6-19 08:02 | 显示全部楼层
除了电容容量,布线也会加重问题。PGEC、PGED走线尽量短,远离电源大电流回路,不要和开关电源走线平行耦合。并联电容紧贴芯片引脚放置,不要远距布线叠加走线寄生电容,双重容性负载叠加断连会更严重。
斧王FUWANG 发表于 2026-6-19 09:16 | 显示全部楼层
我们批量SAM量产工装遇到过,量产板为抗干扰加了22nF并联电容,工装ICD4下载良率暴跌。最终方案:主板上大容量电容串联0Ω磁珠,工装调试时贴断开电阻,出货再焊上;或者工装探针只接触芯片侧引脚,避开电容支路
lxs0026 发表于 2026-6-19 11:19 | 显示全部楼层
之前自己画PIC32底板图省事并了100nF,ICD2直接识别不到芯片。一步步排查:拆掉电容立刻恢复稳定,逐步从小到大换电容测试,实测超过2.2nF就会出现随机断连。预算有限不想改板的话,临时飞线绕过并联电容做调试。
kzlzqi 发表于 2026-6-19 13:29 | 显示全部楼层
车载产品必须保留大容量滤波电容抑制传导干扰,不能直接拆掉。折中方案:PGEC/PGED各增加一颗小型信号二极管隔离电容支路,仿真通讯高电平期间阻断电容大电流泄放,兼顾EMC和调试稳定性,车载项目实测有效。
t61000 发表于 2026-6-19 15:01 | 显示全部楼层
现场设备调试频繁断连,优先区分故障点:1.拔掉目标板外接滤波电容单独测试,判断是不是容性负载问题;2.更换ICD仿真器线材,长线缆本身寄生电容会放大该故障;3.检查目标板内核供电是否压降过大,供电不稳会加剧通讯异常
kqh11a 发表于 2026-6-19 16:05 | 显示全部楼层
做SAM单片机电机控制课题,电源纹波大所以在烧写引脚加滤波电容,调试总断线。查datasheet时序图,电容带来上升沿延迟超出ICD握手时序窗口。导师给的方案:调试用分体式样板,量产版再增加抗干扰电容,分开两套板子规避冲突
一点点0321 发表于 2026-6-19 21:15 | 显示全部楼层
给团队定的整改标准,分紧急/长期方案:紧急改板前,调试工位统一临时拆除烧写口大于1nF的并联电容;长期改版规范,PGM引脚仅预留1nF以下高频小电容,大容值滤波电路通过可断开焊盘单独引出,生产调试、整机抗干扰两套工况分开设计。
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