从计算密度到功率密度跨越:德州仪器(TI)氮化镓如何赋能AI数据中心供电架构革命

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21ic小喇叭 发表于 2026-6-26 08:07 | 显示全部楼层 |阅读模式
摘要

过去 40 年里,半导体行业始终围绕一个核心目标持续演进:提升计算密度,在更小的空间内实现更强的算力。如今,功率密度已经成为行业必须同步优化的关键维度,而这一变化在 AI 数据中心领域尤为明显。单机架功耗已从数十千瓦甚至上百千瓦跃升,并继续向兆瓦级演进;与此同时,大语言模型单次查询的耗电量也显著高于传统搜索。

数据中心正在成为“能源需求增长”和“数据连接需求增长”两大趋势的交汇点,并迈向太瓦时级别的能源消耗。功率密度的快速上升,正在重塑数据中心的建设逻辑,使其关注点从单纯的资本投入,转向对能源、水资源、空间、高压输电能力和光纤连接等基础设施条件的综合考量。

在这样的背景下,如何高效、安全地将大规模电能传输并分配到高功率密度芯片,已经成为整个行业面临的现实挑战。

为什么传统 48V 架构越来越接近工程极限

在 AI 数据中心中,当前主流的 48V 母线供电架构正逼近其物理和工程极限。为了应对功率需求激增,单机架不仅需要超过 200 千克铜材,还面临严峻的物理空间限制:有限的机架空间难以容纳更厚的母排,而 I²R 损耗带来的高热量又迫使系统为母排配置成本高昂的液冷方案。供电系统设计已经变得极其复杂、昂贵且占用空间。

即便如此,受限于约 50V 的低压母线实际瓶颈,单机架功率继续提升仍然十分困难。这已经不再是简单的供电问题,而是算力成本、计算密度与热安全之间的一场极限博弈。

解决这一问题的核心,在于持续提高供电电压,在更靠近实际负载的位置采用更高电压进行传输,从而有效降低损耗。这正是行业从 48V 架构向 800VDC 架构迁移的根本原因:电压提升一个数量级后,电流瓶颈得以从根本上突破,传输损耗和系统发热显著下降。这不仅缓解了线缆和母排占用空间的问题,也通过更大的散热余量,为单机架功率密度向兆瓦级突破提供了更可行的条件。

800VDC 如何重构供电分配路径

更深层的系统优势还在于,800V 架构优化了供电分配路径。在 48V 架构中,电能进入机架后较早完成降压,导致大部分供电路径都在更高电流下运行。而 800VDC 架构则允许高压电直接引入计算机机架。通过将高压配电路径延伸至电能转换的更后端位置,高电流传输距离被压缩到最短,从而显著提升端到端效率。

这场架构调整进一步释放了数据中心基础设施容量。供电系统转换损耗的降低,会直接减轻基础设施整体热负载,从而改善数据中心的 PUE。更重要的是,在电力和制冷能力受限的环境中,供电链路发热的减少可以让系统将更多冷却资源分配给高性能计算核心,支撑更高密度的算力部署。

因此,这种新的供电架构已经不再只是可选的优化方向,而是在面向未来 AI 工厂(AI Factory)建设时越来越重要的基础条件。如果这些问题得不到解决,未来更高功率密度的 AI 系统将难以真正落地。作为长期深耕模拟与电源管理技术的企业,TI 持续围绕这些基础设施瓶颈进行投入。

在 800VDC 架构中,GaN 为什么成为关键器件技术

在 AI 数据中心的 800VDC 架构中,从电网到 AI 芯片的整条供电链路,也就是 Grid to Gate(从电网到栅极),都被显著简化并重新组织。在前端基础设施层,中压电网(如 35kV AC)可通过固态变压器(SST)或中压整流器(MV Rectifier)直接转换为 800VDC 电源。在这一架构下,传统交流 UPS 系统被直接耦合至直流母线的储能系统所替代,在降低转换损耗的同时,也可从直流侧直接缓解 AI 工作负载带来的瞬态波动。

在 800VDC 架构中,AC/DC 电源和电池备份单元被移出 IT 机架,放置在侧挂机架(sidecar rack)中,从而释放 IT 机架内部的宝贵空间,以提升算力密度。800VDC 电源通过 sidecar 机架以及部署在顶部的高压直流母线槽,分配到多个 IT 机架。800VDC 可直接馈入 IT 机架内部的集成供电层,或馈入计算托盘上的配电板,再进一步降压。

无论采用哪种方式,核心逻辑都一致:在尽可能靠近计算节点的位置保持 800VDC 高压,再完成降压转换,以最大程度缩短低压大电流信号的传输距离。

在从电网到 SST 的第一级转换中,碳化硅(SiC)器件凭借材料特性具有显著优势。由于采用垂直器件结构,SiC 能够承受数千伏的高击穿电压,并具备优异的导热能力,因此能够在高压、高功率的电网级整流和一次变压器级别应用中保持很高的可靠性与转换效率。

而在 800VDC 向芯片级供电的功率转换过程中,氮化镓(GaN)器件则扮演着关键角色。由于 800VDC 会直接影响机架内部空间,功率模块必须在极小的面积内完成极高功率的转换。GaN 凭借高频开关特性,可显著减小内部磁性器件尺寸,并提升转换效率。换句话说,GaN 不仅在整条供电链路中损耗较高的关键阶段实现了效率突破,也为兆瓦级算力集群在物理空间内的大规模部署创造了条件。

TI 的高集成 GaN 方案在解决什么问题

高集成度是 TI GaN 器件方案的核心设计理念之一。随着数据中心设计中的功率密度持续上升,工程师的关注重点正从单一器件性能转向整体系统优化,这进一步加速了 GaN 在下一代架构中的采用。

为满足这一需求,TI 持续推进其专有 GaN 技术:TI 的全集成 GaN 功率级将高电子迁移率晶体管(HEMT)、驱动器、保护和控制功能整合到单芯片解决方案中,适用于数据中心、服务器电源、光伏逆变器、工业系统和汽车电子等广泛应用。

这种高度集成显著简化了系统设计,提升了可靠性,也缩短了开发周期。TI 集成驱动的 GaN 器件可实现高达 150V/ns 的压摆率,约为传统硅基 MOSFET 的三倍,并支持超过 1MHz 的开关频率,从而有助于缩小磁性器件尺寸并实现更紧凑的系统设计。

为解决高压摆率带来的开关波形管理挑战,TI 将低电感封装与高度集成架构相结合,即使在极高压摆率条件下,也能提供干净的开关节点波形。这有助于最小化振铃现象,并进一步提升整体系统效率。

为什么 AI 数据中心对 GaN 可靠性提出了更高要求

对于 AI 数据中心而言,可靠性甚至比性能本身更为关键。在高功率密度系统中,任何单点故障都可能影响整个机架乃至整个集群的业务连续性。对 GaN 而言,真正的挑战从来不只是更高效率或更小尺寸,而是如何达到长期、稳定、可规模化部署的可靠性标准。当前,整个行业都在加速提升 GaN 的可靠性,而这一进程也受到 AI 和数据中心市场快速发展的推动。

德州仪器在 GaN 可靠性验证方面采取了非常严格的方法,并且是业内较早推出车规级 GaN 产品的公司之一。汽车市场对可靠性提出了极高要求,也为技术验证提供了高标准平台。TI 在产品推向市场之前,会投入大量时间进行验证、测试并建立相应标准,只有在具备充分信心之后才会量产。

目前,整个行业正处于从硅标准向第三代半导体标准过渡的关键阶段。传统 JESD 和 IEC 标准虽然提供了基础参考,但 GaN 独特的物理特性要求额外的验证机制和长期统计数据。TI 不仅遵循现有标准,也基于自身工程经验持续参与并推动行业标准完善。

这种对可靠性的投入,源于一个深刻的行业洞察:只有建立起与硅技术同等甚至更高的信任水平,像氮化镓这样的新技术,才能真正于关键任务场景中发挥作用。通过将多年在工业与汽车领域积累的工程经验转移到 AI 基础设施领域,TI 正帮助客户识别并降低潜在系统风险,确保每一次功率密度的提升都建立在稳定可靠的基础之上。

中国市场正在提供怎样的基础设施条件

在全球 AI 基础设施竞争中,中国展现出独特的结构性优势,这种优势很大程度上源于中国在宏观能源与电力系统、跨区域算力调度方面的先进布局。不同于其他地区,中国在特高压输电技术方面处于全球领先地位。800kV 至 1100kV 的特高压输电线路,能够将西部丰富的可再生能源以低损耗方式长距离输送到东部数据中心集群。这种能源流与数据流之间的高度耦合,也构成了“东数西算”工程的重要基础。

在这一宏观背景下,数据中心的挑战已经从局部技术优化,演变为涉及能源生产、高压输电、供电分配与转换、散热系统等多环节的综合性基础设施议题。

中国庞大的可再生能源装机容量和完善的光纤基础设施,为超大规模 AI 基础设施扩张提供了良好土壤。德州仪器进入中国市场已有 40 年,见证了这一市场从单纯满足需求到迈向结构性引领的转变。

在当前 AI 浪潮中,中国数据中心运营商和服务器厂商正面临前所未有的功率密度挑战。在大规模供电能力区域有限的背景下,通过提升单机架功率密度来最大化土地与能源资源利用率,已经成为中国市场的核心诉求之一。这要求半导体供应商不仅提供高性能芯片,更要深度参与本地基础设施重构,提供契合特高压与高效配电趋势的系统级方案。

随着行业挑战性质的变化,过去简单的“哪里有需求就建在哪里”的模式,已经被“优先考虑基础设施条件”的新思路所替代。能效、热稳定性和网络连接能力,正在成为重新定义数据中心的三大支柱。

德州仪器依托其在模拟与电源技术领域长期积累的专业经验,将其在汽车和工业领域的高压技术经验转移至算力供电体系。这种深度本地化不仅有助于解决当前的能耗痛点,也将推动建设一个能够支撑未来太瓦时级能耗的中国基础设施体系。在这一过程中,中国市场不仅是技术的使用者,也正在成为全球 AI 供电架构创新的重要来源。这种与本地基础设施趋势的深度共振,将持续推动整个行业的代际变革。
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