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SST 的 SuperFlash 技术已广泛应用于工业、汽车和 IoT 领域，积累了数十年的可靠性数据和量产验证经验。在 AI 推理芯片快速渗透汽车 ADAS、工业预测性维护和医疗诊断等安全关键领域的趋势下，SuperFlash 的成熟可靠性档案对 memBrain APU 通过 AEC-Q100 或 IEC 61508 认证有何直接支撑？与新兴存内计算技术（如 MRAM、PCM）相比，SuperFlash 在高温稳定性、辐射耐受和失效模式可预测性方面有哪些已经过验证的优势？这些传统 eNVM 可靠性优势能否直接迁移到模拟存内计算的应用场景中？
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