我设计了一个简单的电阻测量电路,请大家帮忙看一下,谢谢!

只看该作者 · 2008-1-12 18:57

最近做一个一百多个电阻测量的系统, 想使用ATMEGA16来实现,初步设计了一个很简单的电路,想法是采用电阻分压然后用ADC来采样来实现,精度要求不是很高,+-10%就好,所以就打算取ADC高8位. 由于之前一直都是做软件开发,所以硬件这一块不是很在行.希望各位能给我些建议,看看这个电路图是否可行,是否要在ADC入口加小电容或加放大电路. 目前只测一个阻值的电阻,所以图中放置的精密电阻跟测量电阻标称的阻值是一样的.

我原本有打算把精密电阻放到CD4067后面,考虑到CD4067导通电阻比较大,影响测量精度,所以放到了前面.由于测量的路数比较多,后面可能还要加一级CD4067模拟开关.希望精通ATMEGA单片机及模电的给我一些建议.谢谢!

另外如果测量的阻值有多个,各位有没有好的建议,这个设计明显的缺陷就在于电阻要用非常多,这样不利于后面的更改.

1万 · 2008-1-12 19:18

只看该作者 · 2008-1-14 11:14

只看该作者 · 2008-1-14 11:28

模拟选择器的第16路接地，此路可以用来测试4067的导通电阻，补偿4067引入的误差。
R4选择10K以下的电阻，一方面减少AD对测试电路的影响，另外ATmega的手册中说过对10K内阻的测试源进行了优化。电容是为了减少高频干扰，可以根据采样速度选择一个合适的值。

只看该作者 · 2008-1-14 18:21

做电阻测量时：

有两种常用的方法：

一个电压源，通过运放组成恒流源；
电流已知，测电阻上的电压即可；

通过电桥的方法；

只看该作者 · 2008-1-15 21:37

我原来也想过去减掉CD4067的方法,那时想的比较笨,只是想测一次,以后依照那个值去减,这样就有CD4067内阻随温度的变化以及通过电压的变化而变化,用yermin 提到的方法至少可以克服随温度的变化而产生的变化,另外电压部分的变化而引起CD4067内阻的变化就要通过实际测试才知道了.

多谢各位热心的帮忙.