时钟抖动时域分析（二）

2万 · 2012-7-25 15:40

引言

本系列**共三个部分，第 1 部分重点介绍了如何准确地估算某个时钟源的抖动，并将其与 ADC 的孔径抖动组合。在本文即第 2 部分中，这种组合抖动将用于计算 ADC 的信噪比 (SNR)，之后将其与实际测量情况进行比较。

滤波采样时钟测量

我们做了一个试验，目的是检查测得时钟相位噪声与提取自 ADC 测得 SNR 的时钟抖动的匹配程度。如图 11 所示，一个使用 Toyocom 491.52-MHz VCXO 的 TI CDCE72010 用于产生 122.88-MHz 采样时钟，同时我们利用 Agilent 的 E5052A 来对滤波相位噪声输出进行测量。利用一个 SNR 主要受限于采样时钟抖动的输入频率对两种不同的 TI 数据转换器（ADS54RF63 和 ADS5483）进行评估。快速傅里叶变换 (FFT) 的大小为 131000 点。

图 11 滤波后时钟相关性测试装置结构

图 12 所示曲线图描述了滤波后 CDCE72010 LVCMOS 输出的测得输出相位噪声。131000 点的 FFT 大小将低积分带宽设定为 ~500 Hz。积分上限由带通滤波器设定，其影响在相位噪声曲线图中清晰可见。超出曲线图所示带通滤波器限制的相位噪声为 E5052A 的噪声底限，不应包括在抖动计算中。滤波后相位噪声输出的积分带来 ~90 fs 的时钟抖动。

2万 · 2012-7-25 15:40

图 12 滤波后时钟的测得相位噪声

接下来，我们建立起了热噪声基线。我们直接从 ~35 fs 抖动的时钟源生成器使用滤波后采样时钟对两种 ADC 采样，而 CDCE72010 被绕过了。将输入频率设定为 10 MHz，预计对时钟抖动 SNR 无影响。然后，通过增加输入频率至 SNR 主要为抖动限制的频率，确定每个 ADC 的孔径抖动。由于采样时钟抖动远低于估计 ADC 孔径抖动，因此计算应该非常准确。另外还需注意，时钟源的输出振幅应会增加（但没有多到超出 ADC 的最大额定值），从而升高时钟信号的转换率，直到 SNR 稳定下来为止。

我们知道时钟源生成器滤波后输出的外部时钟抖动为 ~35 fs，因此我们可以利用测得的 SNR 结果，然后对第 1 部分（请参见参考文献 1）中的方程式 1、2 和 3 求解孔径抖动值，从而计算得到 ADC 孔径抖动，请参见下面的方程式 4。表 3 列举了每种 ADC 测得的 SNR 结果以及计算得孔径抖动。

2万 · 2012-7-25 15:41

表 3 测得的 SNR 和计算得抖动

利用 ADC 孔径抖动和 CDCE72010 的采样时钟抖动，可以计算出 ADC 的SNR，并与实际测量结果对比。使用 ADC 孔径抖动可以通过测得 SNR 值计算出 CDCE72010 的采样时钟抖动，如表 4 所列。乍一看，预计 SNR 值有些接近测得值。但是，将两种 ADC 计算得出的采样时钟抖动与 90 fs 测得值对比时，出现另一幅不同的场景，其有相当多的不匹配。

不匹配的原因是，计算得出的孔径抖动是基于时钟源生成器的快速转换速率。CDCE72010 的 LVCMOS 输出消除了时钟信号的高阶谐波，其有助于形成快速升降沿。图 13 所示波形图表明了带通滤波器急剧降低未滤波 LVCMOS 输出转换速率，以及将方波转换为正弦波的过程。

图 13 时钟抖动对采样时钟转换速率的影响

2万 · 2012-7-25 15:41

4 90-fs 时钟抖动的 SNR 结果

改善转换速率的一种方法是：在 CDCE72010 的 LVCMOS 输出和带通滤波器之间添加一个具有相当量增益的低噪声 RF 放大器，参见图 14。该放大器应该放置于滤波器前面，这样便可以将其对时钟信号的噪声影响程度限定在滤波器带宽，而非 ADC 的时钟输入带宽。由于下一个试验的放大器具有 21 dB 的增益，因此我们在带通滤波器后面增加了一个可变衰减器，旨在匹配滤波后 LVCMOS 信号到时钟生成器滤波后输出的转换速率。该衰减器可防止 ADC 的时钟输入超出最大额定值。

图 14 带通滤波器前面添加 RF 放大器来降低转换速率

通过在时钟输入通路中安装低噪声 RF 放大器，两个数据转换器重复进行了高输入频率的 SNR 测量，其结果如表 5 所示。我们可以看到，测得 SNR 和预计 SNR 匹配的非常好。使用下面的方程式 5，计算得到的时钟抖动值在 90-fs 时钟抖动的 5 fs 以内，其结果通过相位噪声测得推导得出。

2万 · 2012-7-25 15:41

表 5 90-fs 时钟抖动和 RF 放大器的 SNR 结果

未滤波采样时钟试验
为了强调滤波采样时钟的重要性，在下一个试验中，我们将时钟带通滤波器从 CDCE72010 输出端去除。在图 15 所示结构中，我们使用了 E5052A 相位噪声分析仪来捕获时钟相位噪声。但是不幸的是，该分析仪对相位噪声的测量仅达到　 40-MHz 载波频率偏移，并且在这点以外没有给出任何相位噪声特性的相关信息。

图 15 未滤波采样时钟输入的测试装置结构

2万 · 2012-7-25 15:41

要设定使用未滤波时钟时的正确积分上限，我们必须再一次复习一下采样理论。CDCE72010 的未滤波时钟输出看起来像一种具有快速升降沿的方波，而其升降沿由时钟频率的基频正弦波高阶谐波引起。这些谐波的振幅比基频低，且其振幅随谐波阶增加而下降。

在采样时间，基频正弦波及高阶谐波与输入信号混频，如图 16 所示。（为了简单起见，仅显示了一个谐波。）因此，三阶谐波周围的相位噪声与输入信号混频，而第三谐波也形成一个混频结果。但是，由于时钟信号的第三谐波的振幅更低，因此该混频结果的振幅也被降低。

图 16 采样时间时钟基频及其谐波与输入信号混频

两个采样信号组合在一起时，我们可以看到，一旦振幅差异超出 ~3 dB 时，由第三谐波引起的总相位噪声减弱为最小。由于基频和第三谐波之间的交叉点为 2 × fs，将宽带相位噪声积分至 2 × fs 可以得到相当准确的结果。

2万 · 2012-7-25 15:42

如后面图 19 所示，CDCE72010 的未滤波 LVCMOS 输出相位噪声在 –153 dBc/Hz 附近稳定，其始于 ~10 MHz 偏移频率，原因可能是 LVCMOS 输出缓冲器的热噪声。ADS54RF63 EVM 具有 ~1 GHz（受限于变压器）的时钟输入带宽；因此理论上而言，应该可以对相位噪声求积分为 ~1GHz（在900-MHz 偏移频率的 3dB 时下降）。这会带来 ~1.27 ps 的采样时钟抖动，并将 fIN = 1GHz 的 SNR 降至 ~42.8 dBFS!

图 17 低通滤波器前面添加RF放大器来降低转换速率

图 18 不同低通滤波器限制相位噪声

图 19 外推 (extrapolate) 123-MHz 偏移频率的未滤波相位噪声

实际 SNR 测量结果比表 6 所列要好不少。对比实际测量结果，计算得时钟抖动和 SNR 之间存在巨大的差异。这表明，LVCMOS 输出的相位噪声实际较好地限定在由变压器决定的 900-MHz 偏移频率界限以内。

表 6 1.27-ps 时钟抖动的 SNR 结果

为了证明未滤波时钟信号的相位噪声需要积分至约两倍采样频率，我们实施了如下试验：在 CDCE72010 输出和 ADS54RF63 时钟输入之间添加不同的低通滤波器。

需要注意的是，与先前试验中的带通滤波器一样，3X 时钟频率以下带宽的低通滤波器降低了时钟信号的转换速率。低通滤波器消除了会产生更快速时钟信号升时间和转换速率的高阶谐波，从而增加了 ADC 的孔径抖动。正因如此，我们将前面试验的相同低噪声 RF 放大器添加到时钟通路，并且利用可变衰减器让转换速率匹配信号生成器（参见图 17）。

将不同转角频率的低通滤波器用于 ADS54RF63 的采样时钟（如图 18 所示），得到了一些如表 7 所列有趣值。该试验结果表明，LVCMOS 输出对时钟抖动的相位噪声影响被限制在约 200 到 250 MHz，其相当于 122.88-MHz 时钟信号的 80-MHz 到 130-MHz 偏移频率，并约为 2x 采样频率。因此，将宽带相位噪声扩至 123-MHz 偏移频率，会产生 ~445 fs 的时钟抖动，如图 19 所示。理想情况下，积分下限应该位于 500 Hz 处（原因是选择的 131000点FFT）；但是，500-Hz 到 1 kMz 偏移频率的抖动贡献值极其低，因此为了简单起见其在本测量中被忽略。

2万 · 2012-7-25 15:42

表 7 ADS54RF63 的测得 SNR

利用调节后的相位噪声曲线图，计算得抖动较好地匹配了 SNR 测量结果，其在 ADS54RF63 和 ADS5483 的 10 到 30 fs 范围内（参见表 8）。考虑到在第三谐波周围可能存在相位噪声的较小时钟抖动影响，该计算得 SNR 只是一种非常接近的估算结果。

表 8 445-fs 时钟抖动的 SNR 结果

表 9 滤波后及未滤波时钟的测得SNR

结论

本文介绍了使用某个滤波或未滤波时钟源时，如何正确地估算数据转换器的 SNR。表 9 概括了得到的结果。尽管时钟输入的带通滤波器对于最小化时钟抖动是必要的，但实验表明它会降低时钟转换速率，并使 ADC 的孔径抖动降级。因此，最佳的时钟解决方案应包括一个限制相噪影响的带通滤波器，以及一定的时钟振幅放大和转换速率，目的是最小化 ADC 的孔径抖动。

本系列**的第 3 部分将介绍一些如何提高现有时钟解决方案性能的实用实施方法。