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新型镀层测厚仪二次开发与抄板制作

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lrpcbco|  楼主 | 2012-8-23 16:21 | 只看该作者 回帖奖励 |倒序浏览 |阅读模式
新型镀层测厚仪是世纪芯在原样机的基础上进行二次开发而研制,在保持原样机所有功能的前提下满足了客户的个性化需求,产品投放市场后已取得了良好的经济效益,深受用户赞誉。该仪器根据磁感应原理研制,可以用来测量所有磁性基体上的非磁性涂镀层,拥有超高的测量精度和重复性,可专门用来测量很薄的镀层厚度。世纪芯现诚挚对外转让此相关案例的全套技术资料,详情请来电来访咨询、洽谈! 电话:0755-83003639。
  该产品技术参数:
  测量原理:磁感应原理
  测量范围:0-500um
  反应速度:1600ms
  重复精度:±(0.1um+0.8读数)
  测量精度:±(0.3um+2读数)
  最小测量面积:直径7mm
  最小曲率半径:凸半径4mm,凹半径5mm
  操作温度:0-50℃
  电    源:主机供电
  尺    寸:120mm×12mm×12mm
  重    量:95g
  世纪芯不仅可为用户提供此系列产品的克隆仿制,并可提供诸多设计参考、系统级解决方案与样机调试、批量生产等垂直化服务,帮助客户实现其产品最大性价比。欢迎有需要pcb抄板及芯片解密的客户前来洽谈!

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