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什么是可控硅效应？

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 楼主| lwdz21 发表于 2012-9-3 10:53 | 显示全部楼层 |阅读模式
可控硅, MOS, MOS管, 锂电, os
现在公司做锂电相关的产品，保护板上有用到8205 MOS管。生产过程中有好多保护板坏，要不不输出要不不充电；但是放置一天或两天后就好了。
现在不知道是什么原因引起的？
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 楼主| lwdz21 发表于 2012-9-3 10:55 | 显示全部楼层
处女贴哦，希望有大神解答。
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 楼主| lwdz21 发表于 2012-9-3 10:56 | 显示全部楼层
还有，我想知道“可控硅效应”是怎么回事。
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 楼主| lwdz21 发表于 2012-9-3 11:37 | 显示全部楼层
怎么自己结贴了？
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NE5532 发表于 2012-9-3 12:42 | 显示全部楼层
因为你给了0分，所以自动结贴，问问题不给分可不是好习惯哟。

可控硅效应是指由于芯片内众多PN结，在特定的条件下（比如负向的脉冲输入）触发其寄生而成的可控硅结构，导致芯片过电流烧毁。芯片烧毁不会恢复，建议你确认发生故障的板子所处的状态，对症下药。
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lwdz21 + 1 谢谢，现在自己恢复的货不知道是否存在隐患 ...

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xmar 发表于 2012-9-3 14:30 | 显示全部楼层
LS回答得好。又称为闩锁效应。现在的IC很少出现了。
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 楼主| lwdz21 发表于 2012-9-4 09:44 | 显示全部楼层
谢谢，由于没什么分所以没有给分。感谢无私奉献的楼上两位。
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 楼主| lwdz21 发表于 2012-9-4 09:47 | 显示全部楼层
目前这个MOS管拆下来时测量GS短路，但是放置一天后测试GS恢复正常了。现在不知道这个货敢不敢用。
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MicroAC 发表于 2013-8-9 17:14 | 显示全部楼层
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