打印

ADC 采样的时候出现尖峰

[复制链接]
1930|4
手机看帖
扫描二维码
随时随地手机跟帖
跳转到指定楼层
楼主
grissiom|  楼主 | 2012-10-12 09:16 | 只看该作者 |只看大图 回帖奖励 |倒序浏览 |阅读模式
今天调试 ADC 的时候发现在采样的时候会有尖峰出现。通道用的是 PA1。电路上 ADC 外面接的是 LM324 的跟随器。没有其他的了。示波器看到的波形如图:
纵坐标每个格是20mV,横坐标每个格是2us。(只有模拟示波器,手机拍的也不是很清楚,见谅……)

给 PA1 加了 105 的去耦电容,尖峰就没有了,效果如图:




剩下的波形是开关电源引起的噪声,与 MCU 无关。

在最高采样率的配置下,采集出的电压值明显偏高,怀疑是前一个尖峰引起的震荡还没有消失,下一次采样就开始了。请问大侠这是怎么回事以及有没有什么更好的解决方法?
沙发
IJK| | 2012-10-12 11:50 | 只看该作者
LZ用的是哪款STM32芯片?

使用特权

评论回复
板凳
grissiom|  楼主 | 2012-10-12 14:51 | 只看该作者
啊,忘了说了,用的是 STM32F103VET6……

使用特权

评论回复
地板
IJK| | 2012-10-12 16:18 | 只看该作者
STM32F103VE 按理不会有这样的问题。
记得 直接用10k电位器对Vdda 进行分压,就接到STM32F103的ADC,测量结果还是挺不错的。
建议LZ用类似的方法试试,如果嫌10k(采样时间较长)太大,可以换成1k的。

使用特权

评论回复
5
拿起书本| | 2012-10-13 14:01 | 只看该作者
硬件的纹波是不是太大了,你可以用示波器测一下交流成份

使用特权

评论回复
发新帖 我要提问
您需要登录后才可以回帖 登录 | 注册

本版积分规则

0

主题

84

帖子

1

粉丝