ADC 采样的时候出现尖峰

发表于 2012-10-12 09:16

今天调试 ADC 的时候发现在采样的时候会有尖峰出现。通道用的是 PA1。电路上 ADC 外面接的是 LM324 的跟随器。没有其他的了。示波器看到的波形如图： 2012-10-11 16.41.12.jpg

纵坐标每个格是20mV，横坐标每个格是2us。(只有模拟示波器，手机拍的也不是很清楚，见谅……)

给 PA1 加了 105 的去耦电容，尖峰就没有了，效果如图：

2012-10-11 16.42.47.jpg

剩下的波形是开关电源引起的噪声，与 MCU 无关。

在最高采样率的配置下，采集出的电压值明显偏高，怀疑是前一个尖峰引起的震荡还没有消失，下一次采样就开始了。请问大侠这是怎么回事以及有没有什么更好的解决方法？

发表于 2012-10-12 11:50

LZ用的是哪款STM32芯片？

发表于 2012-10-12 14:51

啊，忘了说了，用的是 STM32F103VET6……

发表于 2012-10-12 16:18

STM32F103VE 按理不会有这样的问题。
记得直接用10k电位器对Vdda 进行分压，就接到STM32F103的ADC，测量结果还是挺不错的。
建议LZ用类似的方法试试，如果嫌10k（采样时间较长）太大，可以换成1k的。

发表于 2012-10-13 14:01

硬件的纹波是不是太大了，你可以用示波器测一下交流成份