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Agilent 4291B射频阻抗/材料分析仪是针对表面封装元器件和介电/磁性材料的高精度测量的完整解决
方案。与反射测量技术不同，Agilent 4291B使用直接的电流－电压测量技术，可在广泛的阻抗范围内
提供更精确的阻抗测量结果。
基本阻抗精度是+/- 0.8%。高Q精度有利于进行低损耗元器件分析。内置合成器扫频范围从1 MHz到1.8
GHz，具有1 MHz的分辨率。1.8米长的精密电缆可将分析仪连接到测试站，以便您将测试点延伸到分析
仪之外，而不会影响测量精度。先进的矩阵和错误补偿功能消除了夹具的测量错误，确保DUT/MUT的高
精度和可重复性。
Agilent 4291B还提供自动电平精度控制和用IBASIC程序功能监视测试信号；可在恒压或恒流下测量器
件。用可选的直流偏置(达40V和100mA)使测量偏置独立于阻抗特性。只要按一个按钮，内装的等效电
路分析功能就自动计算5种电路模型的电路常数值。
Agilent 4291B有2个测量通道；每一个通道都可设置为测量1个(即Z)或2个(即Z-theta)阻抗参数。具
有分割显示的彩色TFT可显示有效示踪和存储器示踪(保存在RAM中)。内部软盘驱动器以LIF或MS-DOS格
式保存程序和测试数据。有了内装IBASIC，您就能从Agilent 4291B直接控制恒温箱或园片探测器这类
外部测试设备，而不需要单独的仪器控制器。
备注：
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