请教:ST的uC引脚作为输入时容易损坏的问题

只看该作者 · 2012-11-26 09:05

未命名.rar (10.6 KB)
如图所示:

在图一中,使用的是STM8S103K3T6,应用烘箱门开关,烘箱有电机/加热等,在批量生产时,发现检测这个门开关的PA3容易损坏,损坏的特点是:不是PA3对地短路就是引脚内部开路导致检测不到门已关上.
请教:在这一电路中是否硬件设计存在问题?是什么原因造成IO损坏?如何才能避免?

在图二中,使用的是STM32F103R8T6,应用IC卡读卡设备,在工程雏型测试期间[共10套],发现有2套在测试过几百次以后,PA1内部损坏,由于IC卡的特点,此IO需要双向,而输出时可以到达3.3V左右,输入时始终为0.6V左右,判定PA1内部损坏.
请教:在这一电路中是否硬件设计存在问题?是什么原因造成IO损坏?如何才能避免?

只看该作者 · 2012-11-26 09:17

补充一下:
在图一中,为了防止过高的感应电压击穿这个IO,并联一个P6KE6.8于电容两端口,无效.

只看该作者 · 2012-11-26 10:03

up!!!!!!!!!!

1万 · 2012-11-26 10:27

STM8S103K3T6检测门开关的PA3，可以先串电阻(比如1k)再对地接电容。

1万 · 2012-11-26 10:28

STM32F103R8T6 PA1内部损坏，也可以串电阻，比如100欧~500欧

只看该作者 · 2012-11-26 10:45

感谢仁兄,立即修改电路板进行测试,不过结果可能很久才能出来,因为电路板需要重做,并且需要小批量试产才能确认.

再次感谢!

1万 · 2012-11-26 11:18

感谢仁兄,立即修改电路板进行测试,不过结果可能很久才能出来,因为电路板需要重做,并且需要小批量试产才能确认.

再次感谢!
suzhwt 发表于 2012-11-26 10:45

手动修改电路板，简单测试也能看出大致效果，得出大致结论。

只看该作者 · 2012-11-26 14:55

P6KE6.8这东西不保准，用两个4148对地与对Vcc，另外就是增加一个串联电阻，如果还不成，建议在开关接入后，先通过光耦，在光耦的出处接IO这样比较有保证。

只看该作者 · 2012-11-26 16:28

IJK仁兄:
图一的电路的出现机率较低,需要小批量试产才知道;图二的电路已经手工修改了,正在测,过几天就会有结果.

8楼仁兄:
我查看过上述两款芯片的引脚结构图,对地与对VCC的两个二极管,内部已经包含了.
STM8的文档号:RM第100页,STM32的文档号:RM0008第139页.

只看该作者 · 2012-11-28 12:10

初步可以确定是IO端口做为输入时被击穿;这个端口的信号来源和通道是什么?
如果是感应电,加一级RC滤波应该就可以了;如果是其它地方如电源串进来的杂波比较难对付;
但可以用三极管隔开B极前面的信号是外部信号,C极和上拉电阻则用自己的电源;光耦的效果当然更好;
或者用一粒其它的IC门电路,缓冲一下;(有的门电路就一个门,引脚也就4个,相当于三极管).
我们都喜欢把自己的系统做的非常精练简洁低成本高性能......
一旦可靠性和稳定性没有了,就是零.出现一次事故,代价非常巨大,远远不是几片IC的差价能比的;
零故障应该是我们设计人员追求的第一目标.

只看该作者 · 2012-11-28 12:16

不要对自己的设计存在侥幸心理,应该尽可以挑毛病;自己挑毛病总比别人挑毛病要舒服些;
对出现的每一个小小问题都要打起精神全力对待.
我们对电源的认真要下功夫.电源的好坏和抗干扰直接相关;例:我们使用的DC电源有几种,有什么特点,有什么注意的事项;如果这些问题你都不清楚,没出现问题算你运气不错.

只看该作者 · 2012-11-28 12:26

请教:ST的uC引脚作为输入时容易损坏的问题

社区建设奖章

以坛为家

技术高手奖章

十世金身

技术领袖奖章

核心会员奖章

坚毅之洋流

湍急之河流

技术奇才奖章

沉静之湖泊

伴坛终老

突出贡献奖章