本帖最后由 CYJMCU 于 2012-12-21 08:27 编辑
工程要求测量开关触点微电阻 测量范围为 0~30毫欧
如图所示采用四线方式来测量电阻.
以下为查阅的资料
为了消除引线电阻和接触电阻对测量微小电阻的影响, 采用四引线测量, 即在被测的小电阻两端接上4 根相同导线电阻的镀银导线。如图中, M1、M2 为被测电阻的连接点, L1 ~ L4 为4 根镀银导线, 电阻的每个连接点连接两根测试线。构成2 种测试状态: R+ 接T1 、R- 接N1 , 测量出L1、L2及接触点M1 的接触电阻; R+ 接N2、R- 接T 2 , 测量出L3、L4 及接触点M2 的接触电阻。将这两个电阻值取平均值作为测试线路的系统误差。最后测出R+ 接N2、R- 接N1 的电阻值, 减去上述测得的测试线路系统误差, 即可得到被测小电阻的阻值。
问题是我通过什么切换电路的方式让运算放大器来分别测量M1 M2 被测电阻R的阻值呢?
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