8楼：
我不太明白你问的是什么，不知道你说的系数究竟是怎么来的，难以针对性地回答你的问题。只好泛泛地谈一下，一般来说，AD转换中校准系数是用来补偿非线性误差的（主要是INL），另外，要提高AD采样的精度，不外乎以下几个手段：
1、提高AD芯片的位数，这是最直接的方法。
2、使用数字滤波等手段去除噪音。
3、压缩AD的有效输入范围，使之刚好涵盖输入信号的电压范围。楼主是不是要测锂电池电压，现在使用的是不是输入范围0~5V的AD，如果我猜得对的话，锂电池一般准确测4~4.5V就可以了，你如果在AD前面搭一个运放电路，把输入范围限定在4~4.5V，相当于AD转换提高了3.16位。
4、如果AD转换的速度有富于，可以考虑使用过采样技术。
9楼：
不知道你为什么要在过采样三个字上加引号，也不知道“所谓的DNL和INL”中所谓是什么意思。总觉得在坛子中这样讲话听着不太舒服，人固有长短，话固有对错，论坛中，各抒己见可矣！随意攻击别人不利健康讨论。不仔细分析就鄙视别人的论点，也不利于自己学习。你可以搜索一下所有坛子，本人除有时自称菜鸟外，还从来没有说过别人是菜鸟之类的话。
你提出的问题中有一个明显的错误，就是把信号的噪音引入了，衡量AD本身性能的时候，不应该考虑信号噪音，信号中的噪音也是输入信号的一部分，是AD量化结果中需要如实反映的。至于量化噪音，是理想AD也存在的，只要是有限位数的量化，就会产生量化噪音，这个噪音是可以计算出来的。另一个噪音是AD内部模拟电路产生的噪音，以及量化器本身不是理想产生的噪音，如果DNL和INL完全理想，则通过过采样能够提高的位数受这两个噪音的限制，如你所设，这两个噪音也是理想化的话，理论上可以无限提高采样精度。
你知道吗，24位甚至更高的西格玛-德尔塔型AD，就是在一个只有1位的AD上通过过采样得到的。
|
楼主
