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各位大虾,请问对于晶振的参数和信号质量的测量应该选用MCU的XT_IN还是XT_OUT?

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楼主
zlg_arm|  楼主 | 2013-2-28 14:20 | 只看该作者 回帖奖励 |倒序浏览 |阅读模式
沙发
zlg_arm|  楼主 | 2013-2-28 14:27 | 只看该作者

我测量发现OUT要比IN差很多.郁闷应该以哪边的为准?!  OUT经过芯片内部反相器了.一般芯片内部用的时钟源是反相器之前还是反相器之后呢?

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板凳
PowerAnts| | 2013-2-28 14:37 | 只看该作者
楼主是周立功的人? 怀疑
out的阻抗比较in低得多, 应以out为主, 如果对精度要求很高, 那么要用间接测量法: 用感应频率计, 或内部分频后通过GPIO测试

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地板
jlass| | 2013-2-28 16:12 | 只看该作者
MCU从OUT端发出一个震荡,通过晶体相关电路形成稳定的波形后,从IN端进入MCU内部作为时钟源。要测哪一点自己选吧

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