我有一个产品在做GB4706-1第19章非正常工作的2000V浪涌测试（依据GB17626.5）时发现双向可控硅损坏，因为标准要求测试前先去除压敏电阻等浪涌保护器件，所以测试的时候没有带压敏电阻。电路很简单，我就不张贴了，就是在L线、N线之间用双向可控硅控制一个PTC加热块的加热，加热块 室温电阻300欧姆左右。测试时在待机状态下测试（即不加热）
测试合格要求测试过程或测试过后PTC不加热。而我目前测试下来是可控硅会被击穿，输入输出短路从而给加热块加热，故测试不合格。
我目前的解决方案是期望能找到一款合格的可控硅能直接耐2000V浪涌。目前采用的是国产可控硅（参数类似BT138-600E），不知类似NXP、ST等厂家的原厂可控硅是否可以不带压敏过测试。或者大家有什么好的其他方案，可以使测试过程避免出现可控硅短路的故障
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