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设计开发时做单片机抗干扰试验,应关闭还是打开WDT?

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qianlong30|  楼主 | 2007-1-29 19:50 | 只看该作者 回帖奖励 |倒序浏览 |阅读模式
单片机, 抗干扰, 抗干扰能力
一般的抗干扰试验应在关闭还是打开WDT的条件下进行,我感觉关闭更能看出系统的抗干扰能力,不知大家是怎么做的?

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沙发
汽车电子| | 2007-1-29 19:58 | 只看该作者

有些场合允许复位的，主可以打开WDT，否则关闭

   可以一直打开WDT，复位后能回来原点就好

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板凳
ddtv| | 2007-1-29 20:03 | 只看该作者

me too

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地板
binbinwb| | 2007-1-29 21:35 | 只看该作者

还要看系统要求有多高

如果WDT可以大大提高稳定性，说明系统还是有很大的改进之处的；

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5楼
conwh| | 2007-1-29 21:59 | 只看该作者

看你是测试单片机还是你的系统，如果是你的系统就要根据

实际的工作状态；如果你选择单片机就要做一个测试用程序

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6楼
gsnet| | 2007-1-30 08:44 | 只看该作者

先关闭WDT，为了测试软件的抗干扰性能

先尽可能用软件方法对付抗干扰，
之后如果无问题，再打开WDT。
这样软硬件双重保险。 产品质量更可靠

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7楼
gyt| | 2007-1-30 23:55 | 只看该作者

关闭WDT

我一般都是先关闭WDT的。

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