设计开发时做单片机抗干扰试验,应关闭还是打开WDT?

发表于 2007-1-29 19:50

一般的抗干扰试验应在关闭还是打开WDT的条件下进行,我感觉关闭更能看出系统的抗干扰能力,不知大家是怎么做的?

发表于 2007-1-29 19:58

可以一直打开WDT，复位后能回来原点就好

发表于 2007-1-29 20:03

发表于 2007-1-29 21:35

如果WDT可以大大提高稳定性，说明系统还是有很大的改进之处的；

发表于 2007-1-29 21:59

实际的工作状态；如果你选择单片机就要做一个测试用程序

发表于 2007-1-30 08:44

先尽可能用软件方法对付抗干扰，
之后如果无问题，再打开WDT。
这样软硬件双重保险。产品质量更可靠

发表于 2007-1-30 23:55

我一般都是先关闭WDT的。

有些场合允许复位的，主可以打开WDT，否则关闭