本帖最后由 gzs50af 于 2013-3-15 10:52 编辑
我最近负责一个射频开关芯片的测试，需要测S参数，用LTX测试机或者网分测试成本都比较高，下载了一本资料，有下面这段话，请问有前辈搭建过这个系统么？在生产中应用可行么？射频开关可以按照测试无源器件的方法来测么？
图12.11是一个无源器件的大信号S参数测量系统示意图。与放大器相比，无源器件的测量要相对简单些。系统由激励信号源RF1、测试功率放大器、取样耦合器、功率检波器及接收、放大、采样和处理电路、匹配负载等组成。输入耦合器用于采集输入信号a’1和DUT的输入反射信号b’1；输出耦合器用于采集DUT的输出传输信号b’2。功率检波器用于检波采集到的3个射频信号，经过滤波、放大、数字采样等处理后由显示器或者电脑显示测试结果；后台软件可以自动记录功率读数、计算VSWR和插入损耗，并将最终结果用Excel格式输出。
上图所示的测试系统可以测量DUT的下列指标：
(1) 大信号S11参数（输入VSWR）：通过检测输入端的入射信号a’1和反射信号b’1，可以测量出DUT在大信号状态下的S11参数。
(2) 大信号S22参数：将DUT反转方向，按照上述测量方法可测量DUT的大信号S22参数。
(3) 大信号S21参数（插入损耗）：通过检测DUT输出端的传输信号b’
2，可以测量DUT在大信号状态下的插入损耗。
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