如何提高LED测试的效率并减少产品寿命损耗

2万 · 2013-3-20 16:20

本帖最后由 i1mcu 于 2013-3-20 16:21 编辑

摘要
在整个LED产业链中，从芯片一直到封装、成品，均需要对产品的各项光电指标进行测试。而大部分LED厂商会发现，经过测试以后，LED产品的寿命会受到一定影响，甚至有的在测试过程中就已经直接报废。这是为什么？当使用微小电流进行LED测试时，电流越小，等待LED点亮的时间就越长，测试效率非常低下。这又是为什么？国内大部分的厂商都认为这是LED产品本身的特性所决定的，非人力所能改变，其实不然。目前，在欧美、日本、台湾等LED产业相对发达的地区，各大LED厂商已经开始选用LED测试专用电源供应器来应对这一问题。ITECH艾德克斯也专门推出了IT6200双范围可编程直流电源系列，搭配LED测试系统进行测试，可有效减少LED产品在测试过程中的寿命折损，同时提高测试效率，使产能得以最大化。
引言
LED是英文Light Emitting Diode（发光二极管）的缩写，它的基本结构是一块电致发光的半导体材料，核心部分是由p型半导体和n型半导体组成的晶片，这种利用注入式电进行发光的二极管叫发光二极管，通称LED。
LED产品可谓是五花八门。上游的芯片是LED的技术核心，它的光电性能、体积厚度都决定了封装出灯珠的品质和应用领域；LED light bar、LED背光源以及下游的LED手机、电脑、电视机显示屏和LED灯具等成品，所有这些LED产品都无一不需要进行多种光电测试。

LED Light bar测试
要使LED发光，就必须通电。因此在对LED产品的光电性能测试中，通常的做法是使用直流电源给LED产品供电，在LED被点亮的情况下完成各种参数的测试和记录。以前，人们认为，直流电源只要能够供电即可，所以为了节约设备成本而选用一般的电源供应器进行测试。而一般的LED产品，所允许通过的电流一般在30mA以内，这是任何普通的电源供应器都无法做到的，因为在启动的瞬间，不可避免的会产生巨大的突波电流，大大超出LED所能承受的电流范围。大多数时候，由于这个突波电流的时间很短暂，并不会立刻烧毁LED，但是一定会对其寿命造成不可修复的损害（平均寿命降低20-30%）。这样一来，对产品的质量和口碑都是很不利的，会因此蒙受巨大的经济损失。

2万 · 2013-3-20 16:20

本帖最后由 i1mcu 于 2013-3-20 16:22 编辑

现在来做一个实验，使用直流电源测试负载为170V的LED light bar。将LED light bar连接到
直流电源上，在菜单中选择LED mode；然后电流命令设定为Iset=10mA;启动电源的on键，开始给light bar供电。示波器显示电源的电流变化如下图所示：

从图中可以看出，当选择了LED mode进行测试，直流电源系列在启动时，电流非常平滑的上升到设定值，完全没有突波电流产生，所以不会对LED产品的寿命造成任何影响。
如果不使用LED mode（相当于普通电源供应器）来进行同一测试，结果又会怎样？不妨关闭IT6200系列电源的LED mode，来做一个同样的测试。此时，示波器记录下的电流变化如下图所示：

不难看出，在电源启动的瞬间，产生约3.5mA的突波电流。而且，当测试电流越大，产生的突波电流也会跟随着设定电流的上升而上升。如下是
电源在20mA的设定电流下给同样的LED light bar进行测试所得到的电流曲线。