本帖最后由 hwk612167 于 2013-3-21 14:57 编辑
现在一个有一个小系统，MCU为430f6系列，VCC3V供电，通过二极管后连接到AUXVCC3(RTC\BACKUP RAM)，程序中将bakup ram的前3个寄存器分别写个值，类似0x5A5A这种，然后将VCC供电拿掉，测量VCC为0.6V左右，且慢慢下降，然后过一段时间上电，读bakup ram值，有如下实验现象：
1、断电时间约34分钟内的情况，3个寄存器值都没丢失时；
2、断电时间在34分钟以上大概1小时内的，有1个寄存器值丢失；
3、断电时间1小时以上的，3个都丢失了。
以上实验现象，可重现。
Q1：哪位大侠解释下呢，RAM值在掉电时是如何保持的？
Q2：以前看过一个帖子说通过在RAM某个地址设置个值如0x55aa,上电检测判断该值是否变化，据此判断RAM数据是否丢失，按照这个现象，这样做岂不是很不可靠，还是ram 与backupram结构不同？？
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