基于TMS320F28335+PCI的光栅纳米测量卡的设计
摘要：光栅纳米测量卡广泛应用于现代几何量计量设备中，精度高，动态测量范围广。目前国内市场上的光栅测量卡主要来自于国外，价格昂贵，相关的自主产品比较少。本文设计了一种基于DSP+PCI的光栅纳米测量卡，对测量的光栅信号进行放大，通过DSP高倍细分，再通过PCI接口芯片CH365与计算机相连，实现高精度、快速光栅纳米在线测量。
关键字：光栅纳米测量；TMS320F28335；PCI
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