eeprom会用的过程中会有坏bit吗

发表于 2007-7-5 11:43

近来在用EEPROM，清空再读出来校验的时候，有的字节好象有错误。手册上讲可以用100000次，但是在一般没到100000次的时候会不会就被读写坏掉，就象NANDFLASH一样在使用过程中出现坏块，大家有没有类似的使用经历，谢谢

发表于 2007-7-5 14:38

一般情况下比这个要长，不过也会有个别器件提前坏掉，不知道楼主写了多少次？坏的

发表于 2007-7-5 14:56

发表于 2007-7-5 15:23

一般NANDFLASH出厂的时候都不保证所有的块都是好的，
是不是EEPROM使用过程中用不着考虑坏的情况？

发表于 2007-7-5 15:29

发表于 2007-7-5 15:51

100000次只是大概的数字。记得有一个人测试过，比手册上的次数稍微少了一些。

发表于 2007-7-5 16:40

寿命比EEPROM长很多，速度也快，价格嘛，稍微贵一些，有量的产品也是可以考虑的。

发表于 2007-7-5 19:00

没碰到过，

发表于 2007-7-5 19:51

新的，或者用得时间不长的，一般不会有坏的位。

100000次应该是个保守的数字