如果EEPROM(24C02之类)写坏后......

1万 · 2008-1-29 21:06

如果EEPROM(24C02之类)写坏后

1:如果就某一单元坏(如:0x01处),用其他位置会不会受影响?

2:如果某一单元坏(如:0x01处),再写入数据(如0x55), 之后再读,会读到什么数据? 0xff还是0x00?

2万 · 2008-1-30 01:18

2万 · 2008-1-30 08:45

因此再“”也没一点意义了，必须在其他地方建立索引或用别的办法判断

第一个问题：
1:如果就某一单元坏(如:0x01处),用其他位置会不会受影响?
－－一般不会受影响，除非器件整体坏了

2:如果某一单元坏(如:0x01处),再写入数据(如0x55), 之后再读,会读到什么数据? 0xff还是0x00?
－－没意义

只看该作者 · 2008-1-30 09:31

方法是在相邻的十个字节中反复写入{0x55,0x55,0x55,0x55,0x55,0x55,0x55,0x55,0x55,0x55}和
{0xAA,0xAA,0xAA,0xAA,0xAA,0xAA,0xAA,0xAA,0xAA,0xAA}，
每写一遍就读回校验，校验不过就停止写入。

测了十个片子，最后测得AT24C512的寿命稳定超过两百万次。

不过，我没有在失效后读回那些单元到底最终保存了什么。

2万 · 2008-1-30 10:20

1:如果就某一单元坏(如:0x01处),用其他位置会不会受影响?
－－一般不会受影响，除非器件整体坏了，但一般离整体报废也不远了，除非你写程序是对着某个地址一直写，

2:如果某一单元坏(如:0x01处),再写入数据(如0x55), 之后再读,会读到什么数据? 0xff还是0x00?
－－没意义

如果是临界状态，那就是时好时坏，所以是什么值天知道。
如果是过了临界状态，那么写是不会被执行的，那么里面的数据就是OVER前的最后一次数据

1万 · 2008-1-30 13:47

1万 · 2008-1-30 16:34

EEP的实效在于悬浮栅保存的电荷不足以让比较器判断0、1。

1万 · 2008-1-30 20:56

2:如果某一单元坏(如:0x01处),再写入数据(如0x55), 之后再读,会读到什么数据? 0xff还是0x00?

只要有人告诉我读回的肯定不是写进去的,我就放心了

2万 · 2008-1-31 08:18

完全失效前有个临界状态，在临界状态下，可能能写进去，也可能没写进去，

3万 · 2008-1-31 08:40

设计数据结构，在后面加上CRC校验

1万 · 2008-2-3 16:06

再问yewuyi

过了临界状态后,是不是肯定写不进,也读不出?

如果EEPROM(24C02之类)写坏后......

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天知道~~~俺还没做过写坏的实验~~~

既然坏了肯定就是读出来不一样或时好时坏啦

我曾经对新的AT24C512做过寿命测试

~~

赶快换掉

看失效模式

本人最关心的是第二个问题

那你肯定放心不了的……

预先计算寿命，加降额处理

用这个24目的不是存数据

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