本帖最后由 16777216 于 2013-8-24 10:42 编辑
双向可控硅 BT138 带过零检测的光耦 moc3061
51控制moc3061来控制双向可控硅 使用pwm控制
此时到底要不要设计过零检测电路 , 我看到许多电路都是需要的,如果需要,那么感觉过零检测光耦和没有这个功能的光耦岂不是一样么
疑问 ?
问题1:
使用带过零检测的和不带过零检测的光耦 在电路上与软件程序上有什么不同
问题2
突然感觉好像使用moc3061好像不能用来控制可控硅的导通角吧
(原来pwm控制的是周期电源,就是几个周期导通 ,没有使用控制导通角)
2013年8月24日10:37:59 新记录
个人理解
双向可控硅 控制种类 (单片机控制)
1 控制导通角,个人感觉这时候不能使用过零检测型光耦,因为他只能在零信号的时候打开可控硅
(需要过零检测电路,过零检测后通过延时或者定时器之类的计算角度,调节电压)
2使用控制电源周期的方法(A个周期电源导通 100-A个周期不通)
直接使用带有过零检测的光耦(MOC3061),也需要过零检测电路,过零时开中断导通可控硅
控制周期比较1长,但控制方便,程序简单,(不污染电网? 好像这是moc3061的优点)
3 单片机怎么使用过零检测的3061可以不带过零检测电路?
不适用高速,仅仅拿来当做慢速开关(1S) 比如 开 延时1S 关 延时1S
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