不是高手,简单说一下
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专门讲OpAmp稳定性的资料很多，一般而言要求其满足45～60度或者更大的相位余度。针对OpAmp的相位余度，是仿真开环还是仿真闭环的相位余度比较好？似乎不同人有不同的看法。<br />-----<br />开环看AC,闭环看tran, 都要用,没有争议<br />--------<br /> 除了OPAmp，现在的模拟电路系统都很复杂，零极点很多，手工计算零极点会很复杂，也不准确，而spice仿真也会有不少困难（因为不少模拟电路中有数字电路，有的存在开关行为等等），那么如何设计一个稳定的系统或分析一个系统的稳定性？ <br />-----<br />手算,就要抓主要矛盾,<br />switched capacitor circuit 有类似AC的分析方法, 查查PSS, PAC<br />-----<br /><br /> 针对开关电源，不少书中给出了它的交流小信号模型，可是这些模型并没有考虑电路内部的零极点，那又如何精确判断它的稳定性？我一位同事曾经反向过一DC/DC芯片，仿真也没有问题，可是流片出来，测试的时候，产生自激振荡，电路都没有修改过，只是版图重新布局。<br />-----<br />"交流小信号模型，可是这些模型并没有考虑电路内部的零极点"<br />? 有电容电感,就有零极点,难道交流小信号模型只有电阻,受控源<br />只要modeling没问题,仿真方法正确,不应该发现不了稳定性问题<br />-----<br /><br />看到书中讲Delta-sigma（△－∑）高阶(大于2阶）的时候也会不稳定，可是数字电路实现△－∑也会不稳定吗？难道数字电路自己也会振荡？数字滤波器似乎也有这个问题，有的滤波器结构阶数高了也不稳定，我总想不明白为什么。<br />-----<br />有feedback,就可能不稳定,任何系统皆然<br />某些sigma-delta稳定性不好设计是因为,它是非线性电路,近似成线性来做设计,<br />所以高阶难有准确的稳定性判据<br />-----<br />推荐看看stanford EE214 class handout<br />单环稳定性设计方法,已经很成熟,难在多环<br /><br />--个人管见
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