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IC测试座/IC老化座/IC烧写座(IC Test & Burn-In sockets)

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lingmei|  楼主 | 2008-5-26 18:13 | 只看该作者 回帖奖励 |倒序浏览 |阅读模式
IC测试座/老化座(IC Test & Burn-In sockets),封装包括:BGA/CSP(Pitch=1.5mm.1.27mm.1.00mm.0.8mm.0.75mm.0.65mm.0.5mm)、BGA贴片(原型)测试座、QFN(Pitch=0.65mm,0.5mm.0.4mm)、QFP(Pitch=0.4mm.0.5mm.0.65mm.0.8mm.1.00mm)、QFP贴片(原型)测试座、PGA、SOP、SSOP、TSOP、TSSOP、SOT(晶体管测试座)、PLCC、DIP、SOJ等。品牌包括:YAMAICHI、ENPLAS、3M TEXTOOL、WELLSCTI、TI、Advanced Interconnections等.
一般常用的IC测试座,本公司都备有现货,菱美电子同时提供最全的BGA/QFN/QFP/SOP/SOT/DIP测试插座产品,部分BGA插座货期更短至2-~3周,同时可根据客户的BGA器件出脚定制合适的BGA插座.
如果您有兴趣,请浏览公司网页: Http://www.lingmei.com.cn  MSN在线沟通: lingmei_ic@hotmail.com.
相关链接:http://www.lingmei.com.cn/

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沙发
苏州奥金斯电子| | 2021-11-11 15:04 | 只看该作者
苏州奥金斯(Oksolution)成立于2015年,前身是2006年成立的OKins Electronics(KOREA)中国办事处。

奥金斯致力于成为国内弹压式测试座 (Pogo-pin + Open top Socket)优秀供应商。现我司自主研发、制造的新型插座 MP socket 改变传统老化、测试座的状态。

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产品可覆盖大小在0.5x0.5mm~16x20mm之间的任意封装芯片(BGA、CSP、QFN、DFN、SOP、SOT、QFP、LGA、Sip等)

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2.交期短

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4.可满足高频高速,高低温等测试环境或测试要求      
--采用了半导体FT(final test)领域常用的品质稳定的进口探针,以及IC量产工序采用的弹压Open top Socket结构,确保客户芯片测试过程的稳定性和高效性;

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