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电子老化系统测试论证

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x水光|  楼主 | 2013-9-4 10:09 | 只看该作者 回帖奖励 |倒序浏览 |阅读模式
中文名称:多功能综合老化系统
英文名称:Multi_functional aging system
规格型号:ELEC-V
生产厂商:其他
获取方式:自购
仪器购置经费来源:检定情况:已进行计量认证
北京市所在单位:北京圣涛平北科检测研究院
主要技术指标:试验容量: 2048工位(标准) 系统分区: 16区(标准) 老化电源分区: 标准4套(可扩到8套);VB电源(0~25V/40A);VC电源(0~60V/20A),具备恒流和过压保护功能 老化温区: 8个独立程控调速风道提供8个独立温区 恒流源: 每板8路,2A恒流源(可并联使用,最大到16A),控制精度0.5% 老化方式及时间: 每个电源区可独立选择稳态或间歇试验 老化时间设置范围:10000小时内可设定 间歇通断时间范围:1秒~3000秒 电压、电流检测误差: ≤1% 工作特性: 电源调节采用程控和人工调节自适应方式;在人工调节时有第二显示屏显示调节参数,导向指示,防止调节出错;全硬件防插板出错,更安全可靠。 电源要求: 输入:AC220V,50Hz;整机功率:5kW以下 重量: 500kg以下 外形尺寸 (宽×高×深): 1200mm×1700mm×1000mm
功能和应用范围:
通过计量认证:否
通过实验室认可:否
检测样品:各种封装中小功率二极管、三极管、MOS管、稳压管、可控硅、集成稳压器、电阻器、光电耦合器等;
检测项目:各半导体器件(包括高频小功率器件等)的稳态寿命、筛选试验和间歇寿命试验(OP-LIFE、IFOL)

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