请消费类IC设计工程师或者wafer测试工程师近来

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 楼主| 小猫上线 发表于 2009-3-16 17:57 | 显示全部楼层 |阅读模式
各位工程师,我最近遇到问题了,请大家帮忙看如何解决:<br />&nbsp;&nbsp;我做的一颗IC已经量产好几批了,最近客户反应有8%的不良(我们出裸片,允许有1%的不良)。我测那些不良品(只邦定,没封胶),全是一些简单的问题,比如静态电流大,功能明显不对等,从表面上看,I/O的ESD保护都正常。但是我相信我给wafer测试厂的测试说明肯定有测这些,并且我将不良品重新寄到测试厂,用原来的测试程序也能打掉。<br />&nbsp;&nbsp;最近我另外一个同事的产品也出现了同样的问题,都是出了很多次货的。<br />&nbsp;&nbsp;请各位大虾解释一下这是什么原因?是IC的本身不良还是后来造成的?哪个环节出了问题。<br />&nbsp;&nbsp;感谢,留个QQ:10324253,欢迎加我
 楼主| 小猫上线 发表于 2009-3-18 17:18 | 显示全部楼层

怎么没有人回啊

都两天了,怎么只有人进来,没有是留脚印啊
sheepyang 发表于 2009-3-19 09:09 | 显示全部楼层

产品不进行圆片测试吗

不进行圆片测试吗?<br />如果圆片测试没问题的话,那就是在封装过程中受到了损伤或是bond有没有塌丝而与硅片本身发生了接触.
minahua 发表于 2009-4-3 11:36 | 显示全部楼层

ESD

有可能是ESD把内部的device给打坏了。<br />ESD保护device当然一般是不容易坏的<br />
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