21ic电子技术开发论坛 › 综合技术交流 › EDA 技术 › 请问EFR,HTOL和Burn in的异同
返回列表 发新帖我要提问

请问EFR,HTOL和Burn in的异同

[复制链接]
5042|1
 楼主| eebug 发表于 2009-7-18 11:42 | 显示全部楼层 |阅读模式
COM, question, TI, ST, IO
早期失效EFR：目的是通过试验得到产品的早期失效率，所以试验的样本量较大。&nbsp;<br />高温寿命HTOL：目的是通过此鉴定试验得到产品的使用寿命，所以试验时间较长。&nbsp;<br />老练筛选Burn-In：目的是通过试验剔除早期失效产品提高批次的可靠性，所以产品应全数进行试验。<br /><br />更多精彩答案请见&nbsp;：www.eequestion.com<br />
回复

收藏 举报

相关帖子
Stephen.xie 发表于 2010-1-3 12:29 | 显示全部楼层
Burn=EFR+H/LTOL
回复

收藏 举报

返回列表 发新帖
高级模式
B Color Image Link Quote Code Smilies
您需要登录后才可以回帖 登录 | 注册

本版积分规则

eebug

7

主题

10

帖子

0

粉丝
快速回复 在线客服 返回列表 返回顶部