测试问题请教

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 楼主| eebug 发表于 2009-7-18 11:44 | 显示全部楼层 |阅读模式
就数字逻辑电路而言,假设一个所谓SOC电路内部有比较复杂的仲裁逻辑。那么进行ATE测试的时候,通常会希望验证工程师给出一个VCD文件,然后再把它转成测试需要的文件格式。这里就有一个问题了,即使是纯粹的数字逻辑,内部也有存在异步电路的可能,既然是异步电路,就很难保证测试和数字验证仿真时候的一致性,在异步电路处的一个两个时钟周期的差异,就可能引起SOC中仲裁部分许多个周期的差别,那么当实际芯片测试的时候,能否从理论上比较有效的保证验证工程师给的VCD文件转换成&nbsp;ATE测试需要的文件之后,到实际测试中,还能使得验证的波形和测试的结果一致呢?&nbsp;<br /><br />答案请见&nbsp;:<a href="http://www.eequestion.com" target=_blank>http://www.eequestion.com</a>
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