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统计过程管制之计数型控制图

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热心人士|  楼主 | 2013-10-17 15:34 | 只看该作者 回帖奖励 |倒序浏览 |阅读模式

摘要:尽管控制图大多数情况都与计量型数据联系在一起,但是在某些工序我们很难通过测量去获得计量型数据,如坏品、外观检验等。因此开发了用于计数型数据的控制图。计数型数据只有两个值(合格/不合格、成功/失败、通过/不通过、出席/缺席等)。

常用计数型控制图
•不合格品率的[p控制图](样本容量不一定相同);
•不合格品数据的[np控制图](相同样本容量);
•缺点数的[c控制图](相同样本容量);
•单位缺点数的[u控制图](样本容量不一定相同)。

由于性质基本相同,故只重点介绍P控制图
[不合格品率p图]:用来测量在一批检验项目中不合格品项目的百分数。把被检查的每一个元件,零件或项目记录成合格或不合格(即使一个项目有几处不合格,也仅记录为一个不合格项)。

不合格品率p图的操作步骤
1.检验并记录数据
2.计算平均不合格品率P
3.计算中心线和控制界限(USL;LSL)
4.绘制控制图并进行分析

不合格品率p图实战
【例】某除草机制造商以P控制图管制除草机在发动时是否正常。该公司每天抽取40部做试验,第一个月之数据如下表所示,试建立试用控制界限。

SPC是一套统计过程管制系统,系统可自动生成各种控制图供相关管理人员对制造过程进行统计与分析。下面将介绍利用SPC软件来自动绘制不合格品率p图的方法。
【Step1】数据录入:数据>单表头表单

【Step2】自动生成P图:统计>不合格品率p图


以上资料摘自太友科技SPC知识库,如需了解更多有关SPC相关的知识,欢迎登录太友科技官方网站查阅。


统计过程管制之计数型控制图.rar

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