转——C2000芯片的ADC

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1972|2
 楼主| huigoushang 发表于 2013-10-28 23:55 | 显示全部楼层 |阅读模式
C2000有3代产品2812,28335,28035。他们的ADC说是12位,但是很多人做不到,一般认为他们的ENOB是10.1,10.9,10.4.



但其实针对C2000的ADC说ENOB并没有很大意义。因为在测试交流电时ENOB和实际精度并不是1:1的。而测量直流电的时候ENOB却包含了,INL,offset error,gain error....



而TI的datasheet给的相关参数又给人以误导,以28335为例,datasheet中给的offset error ±15LSB,Gain error ±30LSB,是经过adc_cal()矫正后的值;



这里的Gain error 是极端值,即C2000工业品在-40C  - 125C,量程在0~3V之间的极限值;实际上Gain error是会因为输入值大小而改变,比如3V的时候是30LSB的Gain error,1.5V的时候就是15LSB。还会因为内部参考的温飘而变化。通常情况下,Gain error 应该是±10LSB。



offset error是可以矫正的,理论上,可以矫正到0.



实际应用中28335的精度一般是有4LSB的error。



正因为如此我个人认为,再在28335中引用2808的校正程序好像有点多余。毕竟28335出厂时已经有一个矫正数据在adc_cal()中,而真正会影响采样精度的C2000芯片各通道之间的串扰又很难解决

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拿起书本 发表于 2013-10-30 15:45 | 显示全部楼层
又长见识了,通道间的串扰,可以通过合理安排通道的采样顺序和采样窗口来减少串扰的。
zhangmangui 发表于 2013-10-30 23:07 | 显示全部楼层
学习啦   较2812  28335应该好些了吧
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