神了！华邦的W79E83系列单片机

只看该作者 · 2013-10-29 10:46

华邦的W79E83系列单片机
用什么烧录器？
可以软件仿真吗？什么软件？请指教，谢谢！
有好的教程吗？

2万 · 2013-10-29 11:48

华邦的单片机，不是卖了吗？新唐？

2万 · 2013-10-29 13:54

标题与内容不符

2万 · 2013-10-29 14:19

垃圾新唐，绝对是个垃圾，刚刚给我们至少要造成几十万的损失。

我们从年初给客户陆陆续续发了2万多台货，现在面临着全面召回的问题。

TMD，竟然连芯片数据手册上标称的工作环境温度都保证不了，这种垃圾芯片还拿出来卖？

在15～40度环境下，工作一切正常，环境达到50度左右就完蛋，所有的IO口输出全部乱了。

只看该作者 · 2013-10-29 14:44

区区50°新唐就乱了?
真的假的?

1万 · 2013-10-29 15:44

叶工这个两万多台召回多恐怖啊

2万 · 2013-10-29 16:42

本帖最后由 yewuyi 于 2013-10-30 09:03 编辑

sunhq02 发表于 2013-10-29 14:44
区区50°新唐就乱了?
真的假的?

不是每一片都这样，现在统计到的故障比例大概在8%左右，但发出去的货，谁也无法确定哪一片会这样，所以只能启动全面召回，正在和客户协商解决办法，打算给客户的售后每人派一个电热吹风机，到现场后，用吹风机加热芯片，检查其是否能正常工作，能正常工作的，就暂时不召回了。
即使客户同意这个方案，售后人员的差旅费、补助、工资、故障机的补货费用等等，估计几十万的代价也是要付出的了。

TMD，坑爹啊。

2万 · 2013-10-29 16:52

好奇，确认是芯片的问题吗？
能否通过软件解决？
能否通过硬件打补丁维修解决？

只看该作者 · 2013-10-29 17:28

只看该作者 · 2013-10-29 19:30

？？？

只看该作者 · 2013-10-29 20:13

没有版主说的这么严重吧，至少我们做的电加热设备里，每年几W片，工作温度最高到100度以上，都没发现有多大的问题，温度和频率的飘移要在设计时考虑进去。IO口还真没发现任何问题。

只看该作者 · 2013-10-30 08:40

yewuyi 发表于 2013-10-29 14:19
垃圾新唐，绝对是个垃圾，刚刚给我们至少要造成几十万的损失。

我们从年初给客户陆陆续续发了2万多台货， ...

芯片有问题当然不对。但你们产品QA不做高低温测试的吗？一般高低温测试一定要做的。
这样的损失公司管控有一小部分责任。

只看该作者 · 2013-10-30 08:43

抽检不一定能捡出来

1万 · 2013-10-30 08:46

这好事来的，

新唐有钱，正规公司，打官司叫他赔啊

2万 · 2013-10-30 08:50

本帖最后由 yewuyi 于 2013-10-30 09:02 编辑

gx_huang 发表于 2013-10-29 16:52
好奇，确认是芯片的问题吗？
能否通过软件解决？
能否通过硬件打补丁维修解决？ ...

自己都已经承认了，还能说啥。

和软件没啥关系，常温下工作正常，随着温度升高到一定程度，其很多IO口就出现了无规律的关闭，如果把环境温度降低下来，芯片的IO口又变正常了。

只看该作者 · 2013-10-30 08:56

咋不做高低温测试呢？这个必需的

2万 · 2013-10-30 08:59

forrest11 发表于 2013-10-30 08:40
芯片有问题当然不对。但你们产品QA不做高低温测试的吗？一般高低温测试一定要做的。
这样的损失公司管控 ...

在产品设计阶段肯定会做的。

在产品批量生产阶段，我们分成了几个层次：
1、上市1年内的产品每个生产批次，在出厂前都要做通电高温老化，老化时间8小时。
2、上市2年内的产品按照20%的抽样比例，在在出厂前做通电高温老化，老化时间8小时。
3、上市3年内的产品按照 5%的抽样比例，在在出厂前做通电高温老化，老化时间8小时。
4、上市超过3年内的产品，如果在1、2、3过程中从未出现过问题，则取消出厂前的通电高温老化。

这么做的原因主要是我们的产量较大、产品种类较多，而通电高温老化时间较长，对人工、电能等消耗太大，我们也没有这么多的高温老化房，所以制定了这个规则。

而这个产品上市已经5年多了，以前都没出啥问题。

只看该作者 · 2013-10-30 09:05

老产品出现这样的问题，估计是芯片晶圆加工出了问题。

2万 · 2013-10-30 09:11

ayb_ice 发表于 2013-10-30 08:46
这好事来的，

新唐有钱，正规公司，打官司叫他赔啊

估计是芯片IO口那个推挽式MOS管出问题了，现在正在查到底是批次问题，还是全部都有问题，如果是批次问题，根据我们的产品编码追溯，可以只召回那一个或几个批次的问题产品，如果是全部召回，那可就真痛苦了。

一听到打官司就头大，现在最大期望就是仅个别批次有问题就好了，千万别是全部都有问题。

直接损失控制到20万以内的话，只能自认倒霉。

真他妈的的伤不起，华邦做芯片也不是三、两天了，怎么能犯这么低级的错误？

6、7年前被麦肯坑了一把，这华邦又来伤我一回，台湾同胞的芯片设计就那么不能让人放心吗？

2万 · 2013-10-30 09:16

zd420325 发表于 2013-10-30 08:56
咋不做高低温测试呢？这个必需的

你没做过工厂吧？

在批量制造阶段，显然不可能把型式试验的所有项目都做完，如果那么做的话，根本就无法批量生产，所以在批量生产阶段往往都是选择那些风险性比较大的项目做必测项目，其他一些低风险项目要么是按批次抽测或者是定期复查，甚至是不测。

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