这种技术理论上很完美,它没有引入任何额外的功率损耗,不会影响芯片的效率,因而很实用。但是这种技术存在检测精度太低的致命缺点: (1)MOSFET的RDS本身就是非线性的。 (2)无论是芯片内部还是外部的MOSFET,其RDS受μ,Cox,VTH影响很大。 (3)MOSFET的RDS随温度呈指数规律变化(27~100℃变化量为35%)。 可看出,这种检测技术受工艺、温度的影响很大,其误差在-50%~+100%。但是因为该电流检测电路简单,且没有任何额外的功耗,故可以用在对电流检测精度不高的情况下,如DC-DC稳压器的过流保护。 1.2 使用检测场效应晶体管(SENSEFET) 这种电流检测技术在实际的工程应用中较为普遍。它的设计思想是:如图2在功率MOSFET两端并联一个电流检测FET,检测FET的有效宽度W明显比功率MOSFET要小很多。功率MOSFET的有效宽度W应是检测FET的100倍以上(假设两者的有效长度相等,下同),以此来保证检测FET所带来的额外功率损耗尽可能的小。节点S和M的电流应该相等,以此来避免由于FET沟道长度效应所引起的电流镜像不准确。 在节点S和M电位相等的情况下,流过检测FET的电流,IS为功率MOSFET电流IM的1/N(N为功率FET和检测FET的宽度之比),IS的值即可反映IM的大小。
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