在4G发牌的时刻，安捷伦4G技术测试研讨会将在2014 年1月21日北京丽亭华苑酒店隆重召开。安捷伦把4G的热点和关键测试问题一一梳理，精心准备了
样机方案，为客户设计了一场面向应用有深度的高水平研讨 会。参加本次大会，您将会了解到：LTE-Advance的最新技术测试方法、4G高速数字测试挑
战与方案、高速光通信、包络跟踪（ET）技术，高频超宽 带通信数据传输测试、基站与终端元器件测试解决方案等为代表的前沿技术的测试解决方案。
安捷伦是测量测试行业的领导者，在测试测量领域研究有着深厚的技术研究和经验沉淀，我们将客户成功做为自己最重要的目标，期待在安捷伦电子测
量大会上与您进行技术业务的深度交流。
大会当天详细内容，请参见日程与题目摘要。在丰富的内容过后，抽奖环节同样精彩，带回一份属于您的幸运！
日期：2014年1月21日
地点：北京丽亭华苑酒店三层鸿运厅
地址：北京市海淀区知春路25号
时间安排： 08:30 ~ 09:00
听众注册
09:00 ~ 09:05
大会介绍
09:05 ~ 09:20
开幕致辞
09:20 ~ 09:50
主题演讲
09:50 ~ 10:30
从容应对LTE及LTE-Advanced无线终端测试方案
10:30 ~ 10:45
展台参观
10:45 ~ 11:25
功率放大器包络跟踪技术与测量方案
11:25 ~ 12:00
LTE载波聚合技术和LTE-Advanced物理层测试挑战
12:00~13:00
午餐
13:00 ~ 13:40
高频超宽带通信数据传输测试
13:40 ~ 14:20
4G时代的高速数字测试挑战与方案
14:20 ~ 14:30
展台参观
14:30 ~ 15:10
4G基站元器件和终端元器件测试
15:10 ~ 15:50
4G，不仅是无线--4G时代的高速光电通信测试
15:50 ~ 16:00
抽奖，大会结束
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