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[电子元器件]

請教如何測試高精度ADC的線性度

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T-bag2014|  楼主 | 2014-3-12 10:29 | 只看该作者 回帖奖励 |倒序浏览 |阅读模式
ADC, 高精度, DAC, AC, PGA
目前有待測18位精度ADC，需要測試其線性（INL,DNL），由於內置PGA倍數=2/128，VREF=1V，共模點又在1.2V左右，所以單個差分輸入電壓只能在0.8V~1.8V之間。
原本方案是利用高精度20-bit DAC 輸出0~5V ，在利用差分放大器THS4130調節電阻比例輸出等比例電壓0.8~1.8V，然後給待測ADC採集，并輸出數據并分析。感覺從DAC到THS4130時，精度并不能保持在20bit，中間有DAC本身的線性誤差和THS4130的轉換誤差累加，精度損失很大。
請教其他有效的方式。

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沙发
shalixi| | 2014-3-12 10:36 | 只看该作者
首先要有高出一级的测量仪表。

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板凳
shalixi| | 2014-3-12 10:38 | 只看该作者
首先要有精度高出一级的测量仪表。

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地板
xukun977| | 2014-3-12 10:56 | 只看该作者
ADI出版了本(数据转换器手册)，上面有你说的方法。
BURNS写的混合信号IC测试与测量(a introduction to mixed signal IC test and measuremental)也不错。

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5楼
jun_garfield| | 2014-3-12 12:00 | 只看该作者
有些校准高位万用表的可编程基准源可以解决 不过价格嘛

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6楼
mmuuss586| | 2014-3-12 12:03 | 只看该作者

校准源可以做

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7楼
youluo235| | 2014-3-12 12:39 | 只看该作者
可以做个电路消除下误差，或者用软件校准也行。另外AD输入的最大值是多少就应该让输入信号最大值也是那样大，这样就不会浪费精度，

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8楼
xxlin1984| | 2014-3-12 14:21 | 只看该作者
ADC能用外部Vref，或者ADC支持内部Vref输出吗？
如果可以，那同样找个支持外部Vref的DAC；然后两者共用一个参考源，这样就不会引入额外误差了

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9楼
T-bag2014|  楼主 | 2014-4-2 17:32 | 只看该作者
由於回老家種田，這個課題不搞啦。

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10楼
xukun977| | 2014-4-2 17:38 | 只看该作者
T-bag2014 发表于 2014-4-2 17:32
由於回老家種田，這個課題不搞啦。

强！种田上班两不误。

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11楼
lymex| | 2014-4-2 17:56 | 只看该作者
Fluke 720A，0.1ppm的东西；HP 3458A，线性0.05ppm的表，两个结合起来，加上缓冲，测试20位ADC/DAC没有任何问题。
参加AN86：http://cds.linear.com/docs/en/application-note/an86f.pdf

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12楼
shalixi| | 2014-4-2 17:59 | 只看该作者
T-bag2014 发表于 2014-4-2 17:32
由於回老家種田，這個課題不搞啦。

不上学啦？

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13楼
xukun977| | 2014-4-2 19:32 | 只看该作者
使用高精度DVM+积分这种传统方法，太慢了，带宽也不够，很少用了。
现在多用FFT方法，简单，高效，快捷。缺点是需要熟练Matlab，当然，要搞到算法code就省事了。

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