[电子元器件] 請教如何測試高精度ADC的線性度

[复制链接]
2405|12
 楼主| T-bag2014 发表于 2014-3-12 10:29 | 显示全部楼层 |阅读模式
目前有待測18位精度ADC,需要測試其線性(INL,DNL),由於內置PGA倍數=2/128,VREF=1V,共模點又在1.2V左右,所以單個差分輸入電壓只能在0.8V~1.8V之間。
原本方案是利用高精度20-bit DAC 輸出0~5V ,在利用差分放大器THS4130調節電阻比例輸出等比例電壓0.8~1.8V,然後給待測ADC採集,并輸出數據并分析。感覺從DAC到THS4130時,精度并不能保持在20bit,中間有DAC本身的線性誤差和THS4130的轉換誤差累加,精度損失很大。
請教其他有效的方式。
shalixi 发表于 2014-3-12 10:36 | 显示全部楼层
首先要有高出一级的测量仪表。
shalixi 发表于 2014-3-12 10:38 | 显示全部楼层
首先要有精度高出一级的测量仪表。
xukun977 发表于 2014-3-12 10:56 来自手机 | 显示全部楼层
ADI出版了本(数据转换器手册),上面有你说的方法。
BURNS写的混合信号IC测试与测量(a introduction to mixed signal IC test and measuremental)也不错。
jun_garfield 发表于 2014-3-12 12:00 | 显示全部楼层
有些校准高位万用表的可编程基准源可以解决 不过价格嘛
mmuuss586 发表于 2014-3-12 12:03 | 显示全部楼层

校准源可以做
youluo235 发表于 2014-3-12 12:39 | 显示全部楼层
可以做个电路消除下误差,或者用软件校准也行。另外AD输入的最大值是多少就应该让输入信号最大值也是那样大,这样就不会浪费精度,
xxlin1984 发表于 2014-3-12 14:21 | 显示全部楼层
ADC能用外部Vref,或者ADC支持内部Vref输出吗?
如果可以,那同样找个支持外部Vref的DAC;然后两者共用一个参考源,这样就不会引入额外误差了
 楼主| T-bag2014 发表于 2014-4-2 17:32 | 显示全部楼层
由於回老家種田,這個課題不搞啦。
xukun977 发表于 2014-4-2 17:38 来自手机 | 显示全部楼层
T-bag2014 发表于 2014-4-2 17:32
由於回老家種田,這個課題不搞啦。

强!种田上班两不误。
lymex 发表于 2014-4-2 17:56 | 显示全部楼层
Fluke 720A,0.1ppm的东西;HP 3458A,线性0.05ppm的表,两个结合起来,加上缓冲,测试20位ADC/DAC没有任何问题。
参加AN86:http://cds.linear.com/docs/en/application-note/an86f.pdf
shalixi 发表于 2014-4-2 17:59 | 显示全部楼层
T-bag2014 发表于 2014-4-2 17:32
由於回老家種田,這個課題不搞啦。

不上学啦?
xukun977 发表于 2014-4-2 19:32 来自手机 | 显示全部楼层
使用高精度DVM+积分这种传统方法,太慢了,带宽也不够,很少用了。
现在多用FFT方法,简单,高效,快捷。缺点是需要熟练Matlab,当然,要搞到算法code就省事了。
您需要登录后才可以回帖 登录 | 注册

本版积分规则

1

主题

5

帖子

0

粉丝
快速回复 在线客服 返回列表 返回顶部