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第16届IEEE国际集成电路物理与失效分析会议（IPFA2009）将在苏州举行，会议由IEEE南京分会主办，IEEE Reliability/CPMT/ED新加坡分会协办、由IEEE 电子器件协会与IEEE可靠性协会提供技术支持。
IPFA是全球有关半导体物理分析、失效分析及可靠性方面学术水平最高、规模最大、影响最广的国际会议，该会议20年来首次在中国召开。会议将邀请中、美、欧洲、新加坡、日本台湾及亚太其他国际及地区专家作大会报告和分会邀请报告。这次会议将是国内外该领域的研究人员之间交流信息和了解国际、国内最新进展的一次很好的机会。
本次培训特别邀请15位来自中、美、欧洲、新加坡、日本及亚太其他各国及地区专家作培训讲座与技术交流. 会议将为期五天，包括两天的技术交流与培训讲座（7月6-7日）、三天（8-10日）的论文发表与研讨，同时并行三天的设备展览。
具体事宜通知如下：
时间：2009年7月6日-10日 苏州 独墅湖高教区
参加对象：失效分析工程师、可靠性工程师、研发与工程技术人员、质量工程师、工艺工程师、制造工程师、设计工程师、供应商管理工程师、研发/工程/采购/质量经理、研究员、相关专业教授、博士生、研究生等。
承办执行单位：华碧检测（FA LAB）
承办执行协助单位：北京怀远
培训证书：IEEE IPFA2009技术委员会培训证书/中国电子电器可靠性工程协会培训证书
详细内容请看附件!谢谢!
IPFA秘书处联系人：方珍燕（jane）
TL:0512-69170010-106
FAX:0512-69176059
Mobil: 15062353638
Email:fzy823@163.com
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