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ADC芯片采样率与量化后的数据位宽是否成反比

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端坐霜天|  楼主 | 2014-6-23 23:26 | 只看该作者 回帖奖励 |倒序浏览 |阅读模式
沙发
nethopper| | 2014-6-24 17:41 | 只看该作者
本帖最后由 nethopper 于 2014-6-24 17:49 编辑

参考这个视频吧,第1分16秒到第3分56秒有介绍:   http://v.youku.com/v_show/id_XNzI1MzAzMzUy.html

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端坐霜天|  楼主 | 2014-6-24 22:45 | 只看该作者
nethopper 发表于 2014-6-24 17:41
参考这个视频吧,第1分16秒到第3分56秒有介绍:   http://v.youku.com/v_show/id_XNzI1MzAzMzUy.html ...

能否用汉语解释一下,我英语比较捉急,不好意思。

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nethopper| | 2014-6-24 22:52 | 只看该作者
ADC芯片一般不提供这个功能,但通过一定的信号处理能实现这个功能

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端坐霜天|  楼主 | 2014-6-24 23:09 | 只看该作者
nethopper 发表于 2014-6-24 22:52
ADC芯片一般不提供这个功能,但通过一定的信号处理能实现这个功能

我是想说,比如:
A芯片,可以工作到300MHz,其量化后的数据可以达到14bit
B芯片,可以工作到1GHz,它只能量化8bit位宽
是否是其工作原理会导致这样一个结果趋势,能达到高频率采样的ADC芯片,其量化的位宽相对较小。
您是这么理解问题的么。

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nethopper| | 2014-6-25 09:10 | 只看该作者
是这样的

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端坐霜天|  楼主 | 2014-6-25 21:33 | 只看该作者
nethopper 发表于 2014-6-25 09:10
是这样的

也就是说我标题中所述的这个说法并不成立是么?

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nethopper| | 2014-6-27 13:19 | 只看该作者
不成立

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