stm32f103 USB接口抗扰度问题

发表于 2014-8-10 09:17

最近在做静电放电试验，USB太脆弱了，静电放电通过耦合板间接放电就死掉了
怎样对USB接口处理能通过静电放电试验，还是ST的usb就很脆弱，不能进行该项试验

发表于 2014-8-10 10:14

加些保护啊

发表于 2014-8-10 12:37

电源，布线，接口的防护好好处理下；

发表于 2014-8-10 12:37

补充下：你ESD打多少V啊？

发表于 2014-8-10 14:49

mmuuss586 发表于 2014-8-10 12:37
补充下：你ESD打多少V啊？

iec3，接触6000v，空气8000，打耦合板时usb会掉了

发表于 2014-8-10 14:53

mmuuss586 发表于 2014-8-10 12:37
补充下：你ESD打多少V啊？

静电里面分四个等级，1.是没有任何问题
2.可以自行恢复
3.人工干预
4.不可恢复
如何来区别对待，到底usb能不能过1
对于2来讲，我认为应该可以，比如通讯超时可以重新初始化usb，但这里面涉及到一个d+的上拉电阻问题，初始化usb没有办法模拟usb热插拔，

发表于 2014-8-10 22:11

ST的USB口的ESD等级很低的。ST官方给了个参考设计，用他自家的那种ESD保护芯片。。。。。

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