为什么C1不能用104

登录 · 发表于 2014-8-11 11:38

上面的温控器断开的时候单片机复位，数码管显示OE，当温控器闭合时数码管显示OF，保持初始状态，但时反复这样通断，单片机会死机，不动，C1原来是104后来，把104给去掉就没这种死机的情况了，这是什么问题呢，人看到别人是用103的求解答

发表于 2014-8-11 11:53

温控器反复通断，实际上就是对C1在反复做充放电，0.1uF容量下，C1在没有放电完毕下就重新充电，电压不断累积上升，最终超过I/O口的承受电压，导致MCU异常，而0.01uF容量下，电容放电时间短，电压累积效应远远小于前置。

发表于 2014-8-11 13:41

yanwen217 发表于 2014-8-11 11:53
温控器反复通断，实际上就是对C1在反复做充放电，0.1uF容量下，C1在没有放电完毕下就重新充电，电压不断累 ...

就是这个原因？哪不要行不行呢？

发表于 2014-8-11 13:52

yanwen217 发表于 2014-8-11 11:53
温控器反复通断，实际上就是对C1在反复做充放电，0.1uF容量下，C1在没有放电完毕下就重新充电，电压不断累 ...

照你这么说，温度控制器不接，岂不是更容易造成超过IO扣承受电压，导致MCU异常？
为何是反复通断才会出现？

发表于 2014-8-11 14:21

这个IO脚是施密特触发还是不是？软件实现上用中断还是轮询？如果是用中断，在不同电容值下查过每次切换触发了几次吗？

发表于 2014-8-11 14:29

chengchenz 发表于 2014-8-11 14:21
这个IO脚是施密特触发还是不是？软件实现上用中断还是轮询？如果是用中断，在不同电容值下查过每次切换触发 ...

问软件工程师说可以不要？我要不清楚他用那种方法

发表于 2014-8-11 14:30

zhaoyu2005 发表于 2014-8-11 13:52
照你这么说，温度控制器不接，岂不是更容易造成超过IO扣承受电压，导致MCU异常？
为何是反复通断才会出现 ...

我也不清楚，有时候一两次就出现了

发表于 2014-8-11 17:21

你这个I/O口是接单片机复位脚，还是普通IO口？

发表于 2014-8-11 22:39

gdczy 发表于 2014-8-11 13:41
就是这个原因？哪不要行不行呢？

一般输入口加的电容是起到滤波作用，你可以先去掉测试看看

发表于 2014-8-11 23:43

用在IO端口上的电容是为了对付瞬态电压波动，这个波动的能量不高，所以不必使用过大容量的电容，而且容量过大会造成电平明显滞后，甚至吃掉过窄的脉冲输入，很多时候这是不准许的。对于特殊输入需要做大时间常数的积分时，才会配较大电容。

发表于 2014-8-12 08:48

chunyang 发表于 2014-8-11 23:43
用在IO端口上的电容是为了对付瞬态电压波动，这个波动的能量不高，所以不必使用过大容量的电容，而且容量过 ...

学习了，谢谢

发表于 2014-8-12 08:56

进来看看，学习学习

登录 · 发表于 2014-8-12 09:17

chunyang 发表于 2014-8-11 23:43
用在IO端口上的电容是为了对付瞬态电压波动，这个波动的能量不高，所以不必使用过大容量的电容，而且容量过 ...

后来改成这样了！这个复位电路有没有必要改成这样呢？？

发表于 2014-8-12 09:57

上面的图我看过会有一个方波到单片机的脚

发表于 2014-8-12 12:27

信号到底是给普通IO还是复位引脚？
另外，电容降压电路有问题吧？

发表于 2014-8-12 13:21

要确认一下是干扰原因，还是软件原因。
把温控器断开，反复随机模拟输入，看看是否会死机。

发表于 2014-8-12 21:51

gdczy 发表于 2014-8-12 09:17
后来改成这样了！这个复位电路有没有必要改成这样呢？？

这个要看你用的温控器的要求，没有足够的相关信息，无法判断。

发表于 2014-8-13 08:19

chunyang 发表于 2014-8-12 21:51
这个要看你用的温控器的要求，没有足够的相关信息，无法判断。

哦哦好的谢谢

发表于 2014-8-13 08:21

gdczy 发表于 2014-8-12 09:57
上面的图我看过会有一个方波到单片机的脚

没有的，已经批量了

发表于 2014-8-13 10:54

MARK

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