本帖最后由 IC-Buy 于 2014-9-15 17:31 编辑
随着集成电路的日益复杂和性能的不断提高，带动了芯片的测试速度和引脚数的不断攀升，因此对检测集成电路的要求也向着高速的数模混合检测方向发展。要想判断某一集成电路是否是正常的，主要有哪些检测方**华强北IC代购网归纳了常见的四种集成电路检测方法，具体如下：
逻辑分析法，是指若怀疑某一集成电路有问题，可先测量该集成电路的输入信号是否正常，再测量集成电路的输出信号是否正常，若有输入而无输出，一般可判断为该集成电路损坏。
直流电阻比较法，就是把要检测的集成电路各引脚的直流电阻值和正常集成电路的直流电阻值相比较，以此来判断集成电路的好坏。测量时要使用同一只万用表，同一个电阻挡位，以减少测量误差。直流电阻比较法可以对不同机型、不同结构的集成电路进行检测，但须以相同型号的正常集成电路作为参照。
排除法，就是指维修中若判断某一部分电路(包括有集成电路)有故障，可先检测此部分电路的分立元件是否正常，若分立元件正常，则说明集成电路由问题，应考虑更换集成电路。
直流电压测量法，它是检测集成电路的常用方法，主要是测量集成电路各引脚对地的直流工作电压值，再和标称值比较，从而判断集成电路的好坏。
以上是关于常见的四种集成电路检测方法的解答，更多关于集成电路的介绍，尽在华强北IC代购网realchip.net。 |
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