我网上找到这个资料,请问一下是否属实。
软件设计复杂,芯片的BUG过多.目前我们公司已测得的BUG和缺陷有以下几条:
A: SI4432在直接模式下,AFC(自动频率控制)锁住后无法释放,而适合电池供电的周期性打开工作模式恰恰需要用到在直接模式.
B: SI4432在包模式下无法加FEC的功能,这导至灵敏度和抗干扰下降.
C: 打开SI4432的AD然后再关闭,就无法进入休眠,所以测量电池不 能用其内部的AD。
D: 软件复位内部寄存器,不能立刻写入寄存器。
E: 关闭接收再立刻打开,SI4432死机。
F: 某些寄存器写完之后,必须延时一段时间,才能继续写其他的寄存器,否则死机.
G: SI4432在直接模式下,数据时钟无**常从SDO或nIRQ输出,这导至复杂性增加.
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