本帖最后由 fangzimo 于 2014-12-22 10:09 编辑
用NMOS开关,经过100UH的电感给一个容性负载充电,NMOS管的第一次关断后,无法再次打开MOS管,测得栅源电压无压差,测得波形如下:
其中栅极电压波形:红色
源极电压:蓝色
单片机输出到MOS驱动芯片端波形(HIN):黄色
驱动采用的是IR2101S,如下图高边方式:
疑问:高边MOS管关断后存在栅源两端反相电压存在时间为什么很长,导致下次 单片机输出到MOS驱动芯片端信号正常却无法打开MOS管
实际测试电路:
2014.12.16 测试结果
高端MOS给实际电容(之前是测试的在容性负载(压电材料))充电,充电电容连接低端MOS管,低端MOS管充电过程一直导通,测得电容上的充电波形(红色*10档),高端MOS管源极电压(淡蓝色*10档)
疑问的是:
1、按照之前说的,低边没有拉低的话,且高边与低边之间接的是电容,自举电容应该无法充电,应该后面都无法打开高边管;
2、为什么图中源极的电压一直增大;
3、图中三个圈的地方,会出现高边MOS管不导通的现象
@maychang
MOS管不导通解决了:
原因:由于MOS管关断时,源极产生一个瞬间负压,而IR2101S的VS脚有个欠压锁定的功能,导致MOS管无输出,参考IR公司的文档可知:
解决办法:在vs脚焊接一个二极管到地
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