用了Microchip24LC16和24LC64后发现的问题

发表于 2007-10-17 18:20

很奇怪，我们一个产品用24LC16当然是Microchip的，大约是5000片，另一种24LC64大约是30000片之后，我们的客户反应存储出现了一些问题，有大约千分之二三的芯片丢失数据，数据区一般都变成0XFF吧，没有详细分析看，重新写入全部数据后就变正常了，读写24CXX是用模拟 I2C的方式，写时软件有相关保护，同时硬件也做了写保护，因软件故障错误写入的可能很小吧，不知道是什么原因了，就各位FAE看看这是什么原因造成的。 是不是Microchip的存储器制造技术还不过关呀？我们领导正在让我们试用CAT的存储器，周立功代理的那种。

发表于 2007-10-18 15:43

因为过去生产的EE，其电压范围为4.5~5.5V,MCU系统也是5V系统，当去电再上电的话，在MCU复位的时候，EE也能跟着复位，即使没有同步复位，发生的概率极小极小，所以，过去的很多设计都没有注意这个问题。 后来随着3V系统的推广，EE都能支持低电压工作了，有的甚至到1.8V还能工作，此时就比较容易发生电压跌落到1.8~4.5之间时，EE不被电源复位，而MCU却被BOD复位的现象，这就是产生问题的地方。 SCL/SDA被挂死的问题，不管谁家的EE都是一样，这和CHIP无关，这是IIC协议确定的，在IIC协议里另有一个规定，不管SCL/SDA处于什么状态，如果连续发送9个CLK，都能让CHIP强制复位。 所以，建议的做法：在MCU启动后，第一次读写EE的时候，先发送9个CLK防止SCL/SDA被挂死，然后进行START/STOP/READ/WRITE等操作。 另一个解决的办法是用MCU拿出一个IO出来控制EE电源，当MCU被复位后，强制POWER DOWN一次EE的电源，这样也肯定能解开被挂死的EE。

发表于 2007-10-19 10:19

把你原来的start改成： start--&gtstop--&gtstart--&gt9个CLK--&gtstop--&gtstart 9个CLK的意思就是连续发0B1，1111，1111给EE，怎么发这9个‘1’不要再讲了把。 似乎MCP过去的一个有关EE的中文资料略微讲到这个，你自己找找看把。

发表于 2007-10-17 19:42

据我听到的说法： ROHM最好 MCP/ST次之 AT再次之 CAT再次之 呵呵，出问题的往往自己认为没有问题的地方。 随便问一问你的MCU的复位电压多少？

发表于 2007-10-18 09:54

AT再次之，呵呵是ＡＴＭＥＬ吗？这家公司的ＥＥＰＲＯＭ是**呀，没有什么好的呀，还比ＣＡＴ的高，不太相信．这两家的都用过，感觉ＣＡＴ的周立功代理的那个，还不错的．

发表于 2007-10-18 10:05

ROHM株式会社，上帝这是日货，难怪我都没有听说过，第一次听，不过再好，我也不会去用的．我要是选了每年会用他几十Ｗ片的． 还是**持原则： 首先，美国 次之，欧洲 次之，台湾 次之，国内

发表于 2007-10-18 11:09

一定要注意这个电压范围。 9个CLK发了吗？

发表于 2007-10-18 11:28

EEPROM市场数据

发表于 2007-10-18 12:06

发表于 2007-10-18 12:58

只要告诉我，有还是没有就可以了。

发表于 2007-10-18 13:41

很显然这个数据是Microchip的，应该是06年数据。这些数据是给内部看的，我贴在这里有些违规，当然我也删掉了一些敏感信息。是否客观您要自己判断了。 另外，回到顶楼的问题，对于MCHP的EEPROM产品，因芯片自身品质问题而产生的“芯片数据丢失”现象，从MCHP开始生产EEPROM至今，没有发现过（这里指的是FA坏片分析），这是PEEC存储单元的设计以及测试条件保证的。如果你怀疑品质有问题，导致了数据丢失，可以向MCHP要求做坏片分析FA。 说句凭经验而且你不爱听的话，99%以上的可能是，你的设计导致的数据丢失。 附上MCHP的EEPROM简要测试过程： 晶圆级测试的典型测试流程 第一次晶圆测试  全部产品裸片在25°C下测试  参数和功能测试  存储器单元的极限测试 耐用性测试（筛选出所有故障裸片）  在第一次晶圆测试和第二次晶圆测试之间，所有裸片都在250°C 下进行了24小时的数据保存烘烤  相当于使用1.2eV活化能，在85°C 下工作，数据保存期可达100多年 第二次晶圆测试  全部产品裸片在85°C下测试  校验存储器单元的极限参数  参数和功能测试

发表于 2007-10-18 13:52

发表于 2007-10-18 14:52

９个ＣＬＫ指的在那里发，这点Ｍ和其它公司有区别吗？ 亲爱的yewuyi兄，是确计时序中的那个ＣＬＫ吗？上帝，其它ＥＥ没有这条要求吧！ 刚查了程序是有的呀！如果没有这会的话，我想一片ＥＥ都读写不能的！

发表于 2007-10-19 10:13

老兄你有这方面的资料吗，给我看看先，这里先谢谢了

发表于 2007-10-19 10:48

哈哈，欢迎老兄来我们的网站看看，多多指点一下  www.mcubbs.com 本来原来还有一个www.mcusun.com的名字，后来不用了！

发表于 2007-10-19 11:49

发表于 2007-10-19 12:09

单片机社区（我们只做技术交流，不卖东东） 我们原来还有一个名字＂单片机精英联盟＂

发表于 2007-10-19 17:12

我写了一程序，以下为主循环部分（不停的读24C64，器件中都事先写为0x55）： while(1) {     if(Read_24C64(x) == 0x55)   //x为要读的地址         {             LedOn;         }         else         {             LedOff;         }                  x++; } 然后我不停的复位单片机，但并未出现读出的值不对的情况...........

发表于 2007-10-19 19:21

发表于 2007-10-19 19:30

如果你从EE读数据，正好此时读到数据位为0，那么MCU控制SCL产生一个沿跳变后，这个0就从EE里面出来了，如果此时MCU被复位，EE但没有被复位，此时EE输出0的状态不会变化，但MCU复位来并重新来读写EE，此时，你说会发生那些情况呢？ 这是SDA被挂死的一种情况。 MCP的EE出货量还是很大的，估计今年冲到第二没问题。

用了Microchip24LC16和24LC64后发现的问题

相关帖子

原来的系统都是5V系统掩盖了这个问题

没有资料，很简单，9个CLK

就EE质量来说

是４.7V吧！

日本ROHM罗姆

MCP的24LC64的电压范围是2.5~5.5V

EEPROM市场数据

martin这是那家统计的资料，那一年的？

9个CLK发了没有？

回答7楼问题

我个人认为基本就是9个CLK的问题

yewuyi兄

yewuyi兄，我真是大开眼界了

呵呵，受教育了，我好好找找相关资料看一下！

你是歌林的？

不是

请教：SCL/SDA被挂死的问题在哪种情况下会发生？

解答的不错。但对于MCHP的数据有怀疑

举例说明，Wxy8030可能更容易理解

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