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有没有遇到这样的端口漏电问题?

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与时俱进|  楼主 | 2008-3-14 14:38 | 只看该作者 回帖奖励 |倒序浏览 |阅读模式
用pic16f914作两路ad测量,当模拟输入AN0端电压达到负的零点几伏时,模拟输入AN1端的输入漏电流突然增大,导致AN1测量结果明显偏小。
书上只是介绍模拟输入端内部带有钳位二极管,只要输入端设计得使输入电流不超过钳位二极管的承受电流即可,却没有说明(包括数据手册)会影响到其他输入端!
沙发
xieyuanbin| | 2008-3-14 15:09 | 只看该作者

所有AD引脚上的电压都有可能影响到其他AD引脚的采样及转换

因为采用同一AD转换器及采样电容,不可避免会引起AD引脚之间的采样值及电压转换值相互干扰,为将这些影响降到最低,解决的办法是增加采样时间,也就是从ADON或转换通道开始到ADGO之间的时间适当延长,这样给采样电容一个充分的充放电时间使其与采样通道电压平衡就可将通道之间的相互影响降到最低

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板凳
ddb_21ic| | 2008-3-14 15:15 | 只看该作者

模拟输入电压为负,算你狠

最好在模拟前端处理,保证信号输入在0-Vref之间
LS的方法也可以给每个AD脚前加个RC

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地板
与时俱进|  楼主 | 2008-3-17 08:44 | 只看该作者

可能是二楼所说的原因

待我做个实际验证。
但似乎又不是,因为只有在输入达到负的零点几伏后,才明显影响AN1,也就是说有个"拐点"(套用房市的语言),如果是采样电容的原因,那应该是渐进过程,不会有"拐点"

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xieyuanbin| | 2008-3-17 10:06 | 只看该作者

是否采样电阻过大?

一般采样输入阻抗不应超过10K,一些速度要求高的场合采样阻抗应更小至2K以下.
在端口输入负电压时有可能引起硅材料做的采样电容的容量产生变化,所以导致AN端口之间的影响更大.
解决办法:在AD转换结束后尽快与该端口脱离,不管是关闭AD模块还是转换通道,总之与这个通道少沾边为妙.

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与时俱进|  楼主 | 2008-3-17 10:21 | 只看该作者

谢谢谢版主热心帮助

曾就这个问题请教了MICROCHIP一家著名的代理商的技术支持,没有满意的答复。
看来斑竹研究的很细很专业啊。

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与时俱进|  楼主 | 2008-3-17 10:25 | 只看该作者

前级输出阻抗4.7k

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lifengtao| | 2008-3-18 16:12 | 只看该作者

MICROCHIP代理商的技术支持跟咱没啥区别~~

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兰天白云| | 2008-3-20 18:19 | 只看该作者

有些MICROCHIP代理商的技术支持才毕业呢

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ddb_21ic| | 2008-3-23 23:43 | 只看该作者

不可能每个人都是张明峰

其实Microchip的资料很丰富了,我这个门外汉都可以照猫画虎

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与时俱进|  楼主 | 2008-4-6 12:15 | 只看该作者

实验表明确实是模拟输入端口漏电了!

做了一个测试,两个电压信号V0和V1通过两个10k电阻R0和R1分别输送到AN0和AN1,用数字表测量相关电压,V1=1420mv
当V0>0时,R1上压降为零,说明这时AN1输入漏电流为0ua;
当V0=-3.90v时(AN0的电压被内部二极管钳位至-0.6v),R1上的压降为40mv,说明这时AN1输入漏电流为40ua,漏电明显增大!

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兰天白云| | 2008-4-6 21:01 | 只看该作者

当V0=-3.90v时有严重问题

再怎么弄,也不能把负的电压送道AN0口

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